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CTIMES / 儀器設備業
科技
典故
制定無線傳輸規範的組織 - ITU

ITU最主要的工作就是制定無線傳輸設施的相關規範,例如手機、飛航通訊、航海通訊、衛星通訊系統、廣播電台和電視台等無線傳輸設施,
安捷倫推出新系列示波器 (2000.04.05)
安捷倫科技(Agilent Technologies, Inc.)推出一系列五款示波器,提供設計工程師為混合類比及數位信號的設計除錯時所需的各種波道數、記憶體深度、顯示解析度和觸發能力的組合
安捷倫推出80MHz函數/任意波形產生器 (2000.04.05)
安捷倫科技(Agilent Technologies, Inc.)新近推出一款80MHz的函數/任意波形產生器,其脈衝產生能力與價位相等的競爭產品相較,提供近乎兩倍的頻寬。專為研發及製造工程師而設計的Agilent 33250A可作為桌上型機種使用或用於測試系統中,極適合應用於電子設計、電機系統及電子產品的製造上
基礎電量儀器概述 (2000.04.01)
參考資料:
具網路連線功能的示波器及測試儀器 (2000.03.01)
參考資料:
Amkor與供應商聯手突破RF生產測試技術 (2000.02.21)
Amkor Technology公司宣佈,由於該公司工程人員與三家供應商緊密合作,令MicroLeadFrame封裝的生產測試容量增至5GHz;而這項突破大大降低了廣獲業內應用於藍芽(Bluetooth)和其他技術的無線IC封裝的測試成本
Rapid Application Development應用研討會 (2000.02.18)
固緯推出1.0GHz頻譜分析儀 (2000.02.17)
固緯電子公司目前所推出之1.0GHz頻譜分析儀,採用最新的設計「數位鎖相迴路」技術。在此技術下,該機器提供較同級品更高水準的頻率穩定度(±10ppm),並在頻率解析(1kHz)、展開(2kHz/div)及解析頻寬(3kHz)上有絕佳的頻率截取及信號解析能力
Avant!與聯電合作共同導入SinglePass完整之設計解決方案 (2000.02.16)
Avant!和聯電宣佈一重大的合作協議,針對聯電的超深次微米(VDSM)中的互補式金屬氧化半導體流程技術(0.15微米或更小),共同發展和導入先進的設計解決方法。這個設計解決方法將被應用在Avant!的超深次微米(VDSM) SinglePass 工具和設計流程
Rick Wills出任Tektronix CEO (2000.02.16)
太克科技日前宣佈由Rick Wills出任總裁兼執行長並擔任該公司董事,這項人事任命落實了Tektronix稍早的計劃藍圖。前任總裁及執行長Jerry Meyer將卸任其職務,但仍繼續擔任董事長,積極參與公司的事務
德律科技推出TR-6010S TN/STN LCD Driver IC測試機 (2000.02.15)
從事半導體測試設備(IC Tester)及組裝電路板自動化測試設備(Auto Test Equipment)已有11年經驗的德律科技公司,於去年十月份推出10MHZ TR-6010數位IC測試機後,又將於今年二月份再推出專為TN/STN LCD Driver IC所設計的TR-6010S IC測試機
2000太克春季博覽會暨研討會 (2000.02.14)
工研院機械所半導體後段製程設備研產成果豐碩 (2000.02.14)
工業技術研究院機械工業研究所研發半導體後段製程設備中的精密快速取放和黏晶控制技術,已分別獲得我國和美國的專利,運用此技術延伸開發出IC晶粒揀選機等,獲業界矚目
台灣應用材料技術研討會暨2000年Q1業績發表記者會 (2000.02.11)
Kenneth Tai為美商前達科技之新董事會成員 (2000.02.09)
美商前達科技宣布Kenneth Tai為董事會新成員。美商前達科技總裁徐建國指出:「我們非常歡迎Kenneth能加入董事會。」「Kenneth在電子業的科技與管理廣泛的經驗定能提供美商前達科技莫大的助益,我們也期待與他共事並使美商前達科技準備迎接未來21世紀的各項挑戰
固緯獲工業局補助研發2.5GHz頻譜分析儀 (2000.02.09)
固緯電子繼成功開發通訊產業專用儀器「1.0GHz頻譜分析儀」之後,繼續研發更高階的「2.5GHz頻譜分析儀」以因應市場之需。該公司於日前獲得經濟部工業局審議通過「主導性新產品開發計畫案」的研發經費補助,除了給予研發能力的肯定之外,同時帶來更大的發展空間
Tektronix推出TLA 700系列邏輯分析儀擴充主機 (2000.02.08)
太克科技(Tektronix)推出TLA7XM擴充主機,配合TLA 700系列邏輯分析儀使用,可處理與高階微處理器和嵌入式系統設計相關的複雜驗證挑戰。這種搭配提供的邏輯分析儀通道高達2176個,每個通道使用的記憶深度可達16 MB,足以讓設計工程師同時監測、偵錯及驗證包含多處理器與匯流排的電子系統,大幅提高生產力
Tektronix推出TLA7PG2可程式測試碼產生器模組 (2000.02.08)
太克科技(Tektronix)發表最新TLA7PG2可程式測試碼產生器模組(Programmable Pattern Generator Module),用來搭配TLA 700系列邏輯分析儀。TLA7PG2是具有循序控制的多通道可程式化pattern generator模組,可直接插入TLA 700,能夠產生數位激勵以模擬硬體設計和軟體程式測試上較少遇到的測試條件;TLA7PG2會利用模擬器的資料來激勵原型,進行更廣泛的分析
電子產業與EDA科技學術講座 (2000.02.08)
探討Rambus高速數位設計的應用與解決方案 (2000.02.01)
參考資料:
以整合式平台設計系統單晶片 (2000.02.01)
參考資料:

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