CTIMES - 量測

五大趨勢決定量測自動化未來 (2014.05.02)
自動化量測具備高彈性特色，為競爭日益激烈的電子產品製造商，提供了高性價比的量測解決方案，從大方向來看，自動化量測從2010年開始，有五項較為明顯的趨勢，這些趨勢將使的此一產業出現與以往不同的面貌

PAC逐漸成形嵌入式自動化市場再下一城 (2013.12.23)
如果依照維基百科對嵌入式系統的定義，「嵌入式系統通常執行的是帶有特定要求的預先定義的任務，由於嵌入式系統只針對一項特殊的任務，設計人員能夠對它進行優化，減小尺寸降低成本

LitePoint：台廠，你仍有機會搶得先機！ (2012.10.02)
智慧型手機、平板正夯，出貨量呈指數增長。然而，如今測試一台智慧手機仍需10分鐘，按此速度，根本無法追趕上消費者的需求。無線測試系統解決方案領導廠商萊特菠特(LitePoint)營運長Brad Robbins看準這股市場趨勢

工研院發表非侵入式血糖儀從眼睛裡看健康 (2012.10.02)
糖尿病患最引以為苦的，莫過於每天4-6次穿刺採血檢驗血糖值。為此，工研院今(2)日發表非侵入式「即時自我監測血糖儀」技術，透過低能量紅外光照射眼睛內的前房液，來檢測葡萄糖濃度改變化，推算得知人體相對的血糖濃度值

R&S推高階影音介面測試儀彈性化方案滿足多種需求 (2012.09.12)
隨著現今消費者對於高畫質影像需求越來越高，不少平板電腦、智慧手機等行動裝置都已有支援高畫質影音傳輸介面如MHL、HDMI。為了滿足各種介面的測試需求，R&S推出VTC影音測試中心，可針對傳輸介面的相容性進行相關標準的功能性測試，並提供即時協定測試和影音分析功能

量測產業下一步：邁向標準化 (2012.08.07)
「科技」，可以是一種時尚。「科技」，也可以是一種潮流。但是，它更必須具有一種獨特的思維，才得以不斷超越過去。CTIMES特地邀請美商國家儀器(National Instruments；簡稱NI)總經理孫基康談談整個量測科技的脈動與觀察

凌華推出16位元PXI Digitizer新品系列 (2009.02.13)
資料擷取與PXI平台產品供應商凌華科技宣佈以優惠價格推出一系列16位元PXI Digitizer產品（PXI數位器），透過特別優化的類比前級設計、精密校正電路以及搭配高解析之類比數位A/D轉換器，提供高精準度、低噪音以及高動態範圍性能

Tektronix發行第一套實體層測試程序 (2008.11.06)
測試、量測及監測儀器廠商Tektronix宣佈發行Serial ATA 3.0版標準實體層測試的第一套測試程序。Tektronix針對SATA實體層設計和偵錯提供完善的高速串列資料測試組合。 Serial ATA儲存介面的第三代規格最大傳輸速度將從3Gb/s倍增至6Gb/s，準備邁向更高性能的儲存解決方案，包括新的固態磁碟機和企業商業儲存需求

2008安捷倫電子量測論壇開幕記者會 (2008.06.24)
2008安捷倫電子量測論壇將於2008年7月8,10日盛大展開，這次活動將分兩大主題『Moving into a New Era of Wireless（邁入無線新紀元）』與『The Way Ahead for Digital Design Measurement" （數位設計量測的前景）』

2008安捷倫電子量測論壇-新竹場 (2008.06.17)
安捷倫科技致力於量測技術發展，在客戶導向的市場趨勢中，持續提供支持台灣高科技產業的競爭力提升。連續八年，舉辦十次安捷倫電子展，與顧客分享最具市場趨勢的全系列解決方案

2008安捷倫電子量測論壇-台北場 (2008.06.17)
安捷倫科技致力於量測技術發展，在客戶導向的市場趨勢中，持續提供支持台灣高科技產業的競爭力提升。連續八年，舉辦十次安捷倫電子展，與顧客分享最具市場趨勢的全系列解決方案

KLA-Tencor 針對32奈米光蝕控制推出新量測系統 (2008.06.09)
KLA-Tencor公司推出最新的疊對量測系統Archer200，搭載強化的光學系統，在32奈米設計規格節點中，協助客戶達到雙次成圖光蝕（Double-patterning lithography）所需的更高要求，大幅提升性能

PXI TAC 2008第五屆大中華PXI技術和應用論壇 (2008.05.19)
PXI技術經過多年的推廣與發展已經成為業界純熟知名的量測平台，而每年固定將最新PXI技術和熱門應用介紹給廣大客戶的大中華PXI技術和應用論壇也已邁入第五年。PXI TAC 2008將展於6月3日於六福皇宮！在此論壇中

智原科技宣佈開始提供SiP設計服務 (2008.03.20)
智原科技(Faraday Technology)宣佈將開始提供SiP(system in Package)設計服務，目前已開發RF SiP專案，主要應用於GPS產品。智原並將持續優化其設計流程，包括設計流程自動化以及提供客戶封裝及電性分析報告等

安捷倫射頻量測技術研習營元件篇-高雄 (2008.03.05)
安捷倫科技將舉辦射頻量測技術研習營，這場免費的半天研習營活動，將介紹相位雜訊(Phase Noise)、雜訊指數(Noise Figure)等元件量測參數基礎概念與正確量測方式，以協助您克服在短程和長程無線通訊等各種技術中，有關測試信號的產生與元件特性的分析等挑戰

安捷倫射頻量測技術研習營元件篇-新竹 (2008.03.05)
安捷倫科技將舉辦射頻量測技術研習營，這場免費的半天研習營活動，將介紹相位雜訊(Phase Noise)、雜訊指數(Noise Figure)等元件量測參數基礎概念與正確量測方式，以協助您克服在短程和長程無線通訊等各種技術中，有關測試信號的產生與元件特性的分析等挑戰

安捷倫射頻量測技術研習營元件篇-台北 (2008.03.05)
安捷倫科技將舉辦射頻量測技術研習營，這場免費的半天研習營活動，將介紹相位雜訊(Phase Noise)、雜訊指數(Noise Figure)等元件量測參數基礎概念與正確量測方式，以協助您克服在短程和長程無線通訊等各種技術中，有關測試信號的產生與元件特性的分析等挑戰

LED散熱與量測技術(CIE127)研討會 (2007.11.28)
此課程將探討LED之基本原理與製程，講解一般光學量測之定義、名詞和理論。同時因發光二極體與傳統燈源的特性完全不同，適用於傳統照明光源的全光束及光度量測方法未必適用於LED量測上，為此國際照明協會特別針對LED光學特性的量測進行研究，並制訂「CIE-127 Measurement of LED」（即CIE-127）作為各研究單位與廠商依循的規範

Tektronix新產品發表會 (2007.09.13)
隨著科技日新月異的更新與進步，如何以更迅速及更有效的工具量測訊號已成為業界的一大挑戰。Tektronix將於維多利亞酒店享用午餐並於下午在Cool Meeting室舉行新產品發表會

太克連續兩年榮獲廣播及製作雜誌等大獎 (2001.12.28)
視訊測試、量測，及監視解決方案主要供應者太克科技(Tektronix)，連續第二年獲頒多項媒體大獎：包括，義大利廣播及製作雜誌 (IBTS) 頒發的「電視首獎」及「電視攝影棚量測儀器」類首獎