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半导体C-V测试之提示, 窍门及量测陷阱
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【课程简介】:
     这个研讨会是设计为介绍电容电压测试这个主题,主要为其与半导体组件及材料特性的关联。电容电压测试普遍被使用来决定半导体参数,如掺杂浓度分布、接口能阶密度、起始电压、氧化物电荷、和载子生命期。
     这次研讨会将帮助你改善 ,诊断和确认C-V量测系统. 并讨论如何得到良好C-V量测数据.
     探讨的主题包括系统建立和另外谈到其他C-V应用,如高压CV及准静态CV.
     此次研讨会参与者 , 将会学习及了解如下 :
     Connecting a C-V instrument to a probe station properly 如何适当地连接 C-V仪器至探针系统
     Common cable correction techniques 讯号线连接修正技术
     Performance verification at the probe tips 如何确认修正讯号至探针
     Identifying and troubleshooting typical C-V errors 辨认及诊断典型CV错误
     Implementing extended C-V applications, such as high voltage and quasistatic C-V 另外谈到其他C-V应用,如高压CV和准静态CV

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【課程費用】: 此为免费课程

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