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CTIMES / 網路分析儀
科技
典故
第一颗晶体管(Transistor)的由来

第二次世界大战末期,贝尔实验室开始一项研究计划,目标是研发出一种体积更小、功能更强大、更快速且可靠的装置来取代真空管。1947年12月23日,由贝尔实验室研发的晶体管取代了真空管,优点是体积更小、更可靠、且成本低廉,不仅孕育了今日遍及全球的电子半导体产业,同时也促成电讯计算机业、医学、太空探测等领域产生戏剧性的改变。
Anritsu发表高频网络分析仪"Panorama" (2001.06.06)
在全球性一片光通讯的成长带动之下,高速宽带组件的评估益显的特别重要,主要几家组件及系统制造厂商实万向40GHz以上高速组件的研发,有鉴于此,Anritsu日前推出一款高频网络分析仪"Panorama"
安捷伦组件举办量测基础概念研讨会 (2001.05.31)
安捷伦科技为落实协助电子产业的每一个环节,特于景气低迷的当儿,分别于6月19、21和22日在新竹、台北和高雄举办「组件量测基础观念与应用研讨会」。其目的不外为业界工程师打气,藉由重建扎实的基础做起,为景气好转之时,做好冲刺的准备
安捷伦推出RF向量网络分析仪 (2000.09.04)
安捷伦科技(Agilent)日前宣布推出一系列RF向量网络分析仪Agilent PNA,安捷伦表示,该产品结合了业界最快的量测速度、最低的噪声、最大的动态范围、以及最完备的自动化和联机能力
安捷伦推出新款向量网络分析仪 (2000.08.04)
安捷伦科技(Agilent)宣布,该公司新近推出一系列RF向量网络分析仪,结合了业界最快的量测速度、最低的噪声、最大的动态范围、以及最完备的自动化和联机能力。 安捷伦表示,Agilent PNA系列是全新系列的仪器,在设计上采用先进的技术,超越了过去由1986年推出之8753系列所保持的纪录
Agilent的多埠测试系统可加快RF元件的测试速度 (1999.12.10)
安捷伦科技(Agilent Technologies, Inc.)新近推出Agilent 87050E多埠测试系统,在大量制造的生产在线量测50奥姆RF组件的性能时,可大幅提高测试速度和准确度。 新的测试系统是专为搭配Agilent 8712E系列网络分析仪而设计的,两者的组合提供一个高达3GHz的完整解决方案,可量测最多达12个埠的组件

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