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安立知上行链路干扰测试新功能 加速辨识5G和LTE TDD网路干扰 (2023.10.19)
Anritsu 安立知宣布增强 Field Master 频谱分析仪 LTE 和 5G 测量选项的功能。随着 5G 网路加速推广与密集化，更加突显分时双工 (TDD) 上行链路干扰导致的网路效能下降问题。 最新发布的 Field Master 软体选项提供 LTE 或 5G 讯框结构 (Frame Structure) 的双重显示，自动在上行链路时隙布局闸极，同时显示闸控时隙的射频 (RF) 频谱

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