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CTIMES / 零件測試儀器
科技
典故
第一顆電晶體(Transistor)的由來

第二次世界大戰末期,貝爾實驗室開始一項研究計畫,目標是研發出一種體積更小、功能更強大、更快速且可靠的裝置來取代真空管。1947年12月23日,由貝爾實驗室研發的電晶體取代了真空管,優點是體積更小、更可靠、且成本低廉,不僅孕育了今日遍及全球的電子半導體產業,同時也促成電訊電腦業、醫學、太空探測等領域產生戲劇性的改變。
專訪:安捷倫電子量測Jim Curran和Dave Rishavy (2008.07.11)
掌握Wireless和Digital量測主軸 各類WPAN、WLAN、WWAN無線通訊標準應用正方興未艾,新型高速傳輸介面標準諸如HDMI和DisplayPort也備受看好,因此無線通訊與數位設計量測解決方案便成為量測儀器大廠積極發展的核心項目
提供多重模組化軟體定義PXI儀控架構掌握測試量測發展趨勢 (2008.06.13)
PXI是PXI系統聯盟所主導的開放式規格,是針對自動化測試、量測、與控制作業定義PC架構的開放性模組化儀控平台。目前PXI系統聯盟成員已經有70多個,並已提出超過1500個模組化設計產品,可供廠商及工程師因應量測、訊號產生、RF、電源和切換模組進行客製化選擇
專訪:美商國家儀器台灣分公司總經理孫基康 (2008.06.13)
PXI是PXI系統聯盟所主導的開放式規格,是針對自動化測試、量測、與控制作業定義PC架構的開放性模組化儀控平台。目前PXI系統聯盟成員已經有70多個,並已提出超過1500個模組化設計產品,可供廠商及工程師因應量測、訊號產生、RF、電源和切換模組進行客製化選擇
電源量測作磐石  致茂強化光電與自動化競爭優勢 (2008.05.14)
台灣本土量測大廠致茂電子(Chroma)今日在林口總部推出新一代可編程直流電子負載Model 63600系列產品,董事長兼總經理黃欽明表示,致茂已經成功整合光、機械、電源、量測軟體以及自動化5項技術,今年將進一步提出液晶模組後段生產自動化測試方案,並將生產線測試LED電源專利技術商業化,繼續在電源量測領域中保有領先群雄的優勢
清楚顯示波形頻率並支援混合訊號觸發解碼的量測方案 (2008.05.13)
使用多重技術的嵌入式電路混合訊號和內部串列通訊設計越來越複雜,這也使得偵錯量測作業的挑戰越來越高,工程師必須壓低量測成本,用更少的設備與資金,滿足繁瑣的嵌入式混合訊號測試作業內容
專訪:Tektronix示波器產品線行銷經理Lisa Bieker (2008.05.13)
使用多重技術的嵌入式電路混合訊號和內部串列通訊設計越來越複雜,這也使得偵錯量測作業的挑戰越來越高,工程師必須壓低量測成本,用更少的設備與資金,滿足繁瑣的嵌入式混合訊號測試作業內容
掌握嵌入式設計與序列匯流排混合訊號的量測要點 (2008.05.13)
嵌入式系統設計應用無所不在,量測工程師在面對同時存在的各種類比訊號和數位混合訊號時,經常會出現一些可預測和不可預測的問題,以及較不常見事件發生機率低的複雜訊號,這時量測工程師需要應用高效能的示波器,在有效時間內捕獲和記錄類比數位混合訊號,並對這些訊號進行回放、解碼,進而深入分析、除錯
專訪:Agilent電子量測事業群專案經理潘光平 (2008.05.13)
嵌入式系統設計應用無所不在,量測工程師在面對同時存在的各種類比訊號和數位混合訊號時,經常會出現一些可預測和不可預測的問題,以及較不常見事件發生機率低的複雜訊號,這時量測工程師需要應用高效能的示波器,在有效時間內捕獲和記錄類比數位混合訊號,並對這些訊號進行回放、解碼,進而深入分析、除錯
KLA-Tencor新光罩檢測技術可執行多缺陷檢測 (2008.05.02)
KLA-Tencor公司推出最新光罩檢測技術,名為「晶圓平面光罩檢測(Wafer Plane Inspection,WPI)」。WPI不但能勝任對良率至關重要的32奈米光罩缺陷檢測,其運行速度也比先前的檢測系統的快40%,並且可能可以縮減檢測在整體光罩生產中所佔的時間
混合訊號設計與測試挑戰 (2008.04.20)
電子產品的多元化及多樣化發展,擴展了混合訊號IC發展的更多可能性。而更先進的製程除了增加了混合訊號IC的電路設計複雜度之外,同時也加深了設計上的因難。為了因應這些挑戰,不僅設計流程需要進行調整及最佳化,針對設計完成後的量測工作也更增添難度
安捷倫推出FlexRay車用通訊匯流排量測應用軟體 (2008.03.26)
安捷倫科技(Agilent)新近推出一套量測應用軟體,可為Infiniium系列示波器提供完善的FlexRay觸發、通訊協定解碼、除錯及眼圖分析能力。這套量測解決方案可協助採用嵌入式微處理器的汽車設計人員驗證FlexRay信號的完整性,以及有效地偵測和找出通訊協定與信號完整性的問題
首度對外開放  Agilent在中壢成立無線通訊實驗室 (2008.03.20)
無線通訊量測儀器大廠安捷倫科技(Agilent Technologies)今日(20日)在中壢辦公室宣佈成立無線通訊實驗室,將針對WiMAX及其他無線通訊設計驗證、通訊協定符合性和互通性測試部分,提供台灣無線通訊設備廠商先期驗證測試服務
提高記憶深度及完整訊號捕獲率的示波器整合方案 (2008.03.18)
幾乎所有電子產業包括電腦、通訊、半導體、航太國防、汽車與無線產業中的電子設計與測試研發人員,都在持續開發複雜的硬體設計方案,細微的訊號和偶發事件益發層出不窮,因此硬體設計工程師需要分析除錯功能強大的示波器,做為硬體設計測試除錯的主要量測依據
吉時利宣布將與Stratosphere Solutions合作 (2008.03.13)
美商吉時利儀器(Keithley)宣布今後將與Stratosphere Solutions進行密切合作。Stratosphere Solutions是專為IC廠商提供創新參數良率改良方案的廠商。兩家公司將合作,運用Array TEG(測試元件群)技術,以支援先進製程的開發和監控
安捷倫推出整合邊界掃描和VTEP技術 (2008.03.11)
安捷倫科技(Agilent)宣佈將為內電路測試(ICT)用戶提供一個創新的方法,讓他們在接觸受限的空間內測試印刷電路板組件(PCBA),而不會犧牲測試涵蓋率或產品上市時程,時可省下夾具的成本及減少測試資源
細說頻譜分析儀之種類與應用 (2008.03.10)
頻譜分析儀主要用於顯示頻域輸入信號的頻譜特性,因此對於信號分析而言是不可缺少的量測儀器。頻譜分析儀是透過頻域對信號進行分析、研究,本文簡單介紹了頻譜分析儀的應用與運作,在許多應用領域,頻譜分析儀都是工程師的好幫手
頻譜分析儀優勢探討 (2007.12.19)
頻譜分析儀對於射頻量測工程師而言,是非常重要的一種量測儀器。而工程師對於使用傳統頻譜分析儀和FFT訊號分析儀進行功率與頻率測試時,也必須深入了解並掌握頻譜分析儀的基本知識,如此才可讓頻譜分析儀發揮最大功效
提升半導體測試精確度的模組化圖形系統設計架構 (2007.11.19)
整合越來越多功能的半導體製程,也越來越需要更為嚴謹且精準的驗證測試套件。逐漸邁向工業測試標準的PXI模組化儀器以及圖形化系統設計(Graphical System Design)解決方案,已經帶動起IC測試業界的新風潮,成為半導體各類訊號測試不可或缺且重要的輔助依據
簡易量測感測器硬體及軟體介面簡化設計 (2007.11.19)
透過Easy Drive ADC架構,量測高阻抗感測器可以變得更簡單,設計師也可擺脫其ADC前端的放大器,而於ADC輸入加入小型分離電容,以作為充電庫。透過單通道及多通道版本、I2C及SPI、16或24位元解析度,完整的Easy Drive ADC系列,將可精確地數位化任何感測器、負載電流或電壓
ASSET與安捷倫宣佈整合內電路與JTAG測試 (2007.08.28)
國際邊界掃描(JTAG/IEEE 1149.1)測試和系統內編程(ISP)廠商ASSET InterTech Inc.與安捷倫科技(Agilent Technologies Inc.)宣佈將擴大雙方長期的銷售、行銷與授權合作協定。根據該協定,ASSET的ScanWorks JTAG系統會整合到安捷倫的3070、Medalist i5000和較新版i3070內電路測試(ICT)系統中,以構成完善的JTAG解決方案

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