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车用IC可靠度验证方法与可能面临之瓶颈
 


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開始時間﹕ 十一月三日(三) 13:00 結束時間﹕ 十一月三日(三) 17:00
主办单位﹕ 宜特科技
活動地點﹕ 新竹科技生活馆
联 络 人 ﹕ 邱小姐 联络电话﹕ +886-3-578-2266
報名網頁﹕ http://pull.xmr3.com/p/6252-803501-474B/83023062/clickto5_-02_seminars_detail.php-ID=79.html
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随着电子技术的演进与车辆主动式安全设计需求提升,「汽车电子」在车辆上的应用已从过去占整车成本的13%提升至40%。丰田汽车更为降低日本汽车事故,发展【汽车电子茧】概念,利用数百件传感器(Sensor)将车辆包围起来,车辆控制单元(ECU/MCU)根据传感器信息对整车进行电子控制(如煞车、方向盘、停车、预防撞等),此概念将加速各种车用传感器与微处理器市场快速成长。

然而,「汽车电子」与「消费性电子」所使用的IC在可靠度要求上有着极大的不同。消费性电子可经由商业交易谈判来确认允许多少市场客退换货,然而汽车电子所使用的IC(如ECU/MCU等),直接与人的生命安全高度相关,因此只要有一点可靠度不良的风险都将产生严重的后果。台湾IC设计公司在过去高度发展下已具备相当成熟之IC设计能力,但要如何进一步整合外包厂将其所设计之产品跨入高利润与高可靠度之车用IC领域则是目前最热门的话题。

宜特科技将于11月3日举办【车用IC可靠度验证方法与可能面临之瓶颈】研讨会,课程将从车用IC可靠度标准进而探讨汽车电子协会(AEC)使用何种管制方式来达成零缺陷率(Zero defect),欢迎业界先进一同前来交流与共襄盛举。

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