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触控面板验证量测技术讲座
 


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開始時間﹕ 九月十六日(四) 13:30 結束時間﹕ 九月十六日(四) 16:30
主办单位﹕ CTimes
活動地點﹕ 新领域教育中心401室-北市馆前路49号4楼
联 络 人 ﹕ 張小姐 联络电话﹕ 02-2585-5526 分機 225
報名網頁﹕ http://www.ctimes.com.tw/cf/ShowCF.asp?O=201009161330003554
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由于具有直觉性操控的优势,触控面板的重要性与日俱增,应用领域也不断拓展,使得相关产业的前景一片看好。根据DisplaySearch的研究报告指出,从现在到2015年为止,整个触控面板模块产值之年复合成长率将达16.4%,其中以电阻式及投射电容式为主流,而投射电容式的成长最快。

仅管市场看好,但触控产业仍面临许多困难和挑战,尤其是在良率方面仍然不高,造成制造成本难以降低。举例来说,为回避专利及满足特殊需求,今日触控面板厂商往往需开发新的电极图样设计,但也因而产生制造与分析上的困难。

因此,当前触控产业急需建立相关产业检测标准与验证平台,以做为整个产业上、中、下游产品检验之根据,并建立包括材料、模块及系统产品标准量测方法与流程。例如触控面板制程量测技术大致分成基本规格及缺点、光学特性与电气特性等三大块量测技术。

工研院量测中心多年来致力于协助国内触控产业建构参数产业标准,扮演着沟通整合及共通检测验证平台建置之角色。此次特邀请该中心戴鸿名博士,针对触控面板开发之验证需求分析、触控面板生产流程与量测技术及触控面板产业标准建构进行剖析介绍,是您不容错过的重要讲座。

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