账号:
密码:
CTIMES / 活动 /   
印刷焊锡检测仪的市场及技术研讨-台北
 


浏览人次:【5798】

開始時間﹕ 九月四日(二) 13:00 結束時間﹕ 九月四日(二) 16:30
主办单位﹕ 安立知
活動地點﹕ 台北远东国际饭店-台北市敦化南路2段201号
联 络 人 ﹕ 許小姐 联络电话﹕ 8751-1816 ex.250
報名網頁﹕
相关网址﹕ http://ad.digitimes.com.tw/EDM/EDM_anritsu_960814.htm

由于各种不同的数字电子产品愈来愈强调微小化、多功能化,以及多种数字电子产品举凡计算机、手提电话等..愈来愈强调所谓的行动数字技术。所以各种不同的数字产品微小化、轻便化的功能乃为目前各种电子技术趋势之所在。为因应各种微小化的电子产品,电子组件以及印刷电路板也就愈来愈微小化,所以也直接造成印刷电路板制造的进化及各种电子组件的微小化。

当电路板上的组件愈小,电路板上的焊锡点距离就愈近,所以电路板上的焊锡印刷技术控制就愈来愈重要。过窄及不良的焊锡会造成最终数字产品的良率质量的各种问题。这个问题已经是各个电子大厂或者从事SMT代工的公司十分注重的改进部份。

安立知公司基于多年与日本各大SMT设备公司合作的经验,针对现今各种微小IC及电路板的趋势,特将此项精密设备引进台湾及中国,以三维检测的方式让各种不同类型的公司于产品打件、插件时获得更好的良率,并使各个公司减少不必要的资源浪费。

相關活動
第二十四届全国AOI论坛与展览
Touch Taiwan - Connection 跨域共创,连接未来
2024年「AI与传播创新:高等教育的趋势与挑战」国际研讨会
2024技职教育永续发展学术研讨会「 人工智慧时代的创新与挑战」
半导体供应链重组与经济安全国际研讨会

 
相关讨论
  相关新闻
» Anritsu Tech Forum 2024 揭开无线与高速技术的未来视界
» 安立知获得GCF认证 支援LTE和5G下一代eCall测试用例
» 资策会与DEKRA打造数位钥匙信任生态系 开创智慧移动软体安全商机
» 是德科技推动Pegatron 5G最隹化Open RAN功耗效率
» 是德科技PathWave先进电源应用套件 加速电池测试和设计流程
  相关文章
» 最隹化大量低复杂度PCB测试的生产效率策略
» 确保装置互通性 RedCap全面测试验证势在必行
» ESG趋势展??:引领企业迈向绿色未来
» 高阶晶片异常点无所遁形 C-AFM一针见内鬼
» 高速传输需求??升 PCIe讯号测试不妥协

AD

刊登廣告 新聞信箱 读者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3
地址:台北市中山北路三段29号11楼 / 电话 (02)2585-5526 / E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw