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用于检测裸矽圆晶片上少量金属污染物的互补性测量技术 (2021.12.30)
本文的研究目的是交流解决裸矽圆晶片上金属污染问题的经验，介绍如何使用互补性测量方法检测裸矽圆晶片上的少量金属污染物并找出问题根源，
英飞凌与欧尼尔合作开发「可穿式电子产品」 (2004.02.12)
英飞凌科技与运动品牌厂商欧洲欧尼尔公司〈O’Neill Europe 〉12日宣布一项两家公司所连手的产品开发计划结果：首件「可穿式电子产品」。英飞凌依据欧尼尔的规格，已经开发出一种适用于滑雪夹克整合的的芯片模块


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