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爱德万T2000测试平台推新通用型模组 扩充数位与电源供应功能 (2020.12.14)
半导体测试设备供应商爱德万测试 (Advantest Corporation)日前发表两款最新通用型硬体设备500MDM数位模组与DPS32A电源供应模组，扩充旗下T2000测试平台功能，涵盖诸如系统单晶片 (SoC)元件、电源管理IC、车用元件和CMOS影像感测器等应用，以因应日益成长的数位转型市场 |
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爱德万测试：5G与AI为测试设备带来新一波商机 (2019.09.06)
在矽晶片的发展中，每到一个新的时期，就会有不同的市场驱动力。从1990年代的PC，2000年的手机，到2010年的智慧手机，约以十年为间隔，持续推动着半导体产业的矽晶片发展节奏 |
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爱德万推出电动车高功率类比IC测试新模组 瞄准车用市场 (2017.12.04)
爱德万测试 (Advantest Corporation)发布T2000 IPS系统两款最新模组，可测试应用於电动车 (EV) 动力控制系统的高压与高功率装置。
最新升级的MMXHE (多功能混合高压Multifunction Mixed High Voltage) 与MFHPE (多功能浮动高功率Multifunction Floating High Power) 模组具备爱德万测试创新多功能接脚设计 |
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是德科技推出PXIe数字激发与响应模块专为射频芯片组测试系统设计 (2015.02.12)
是德科技（Keysight）日前推出具备参数量测单元（PMU）与16个信道的PXIe高速数字激发/响应模块。Keysight M9195A PXIe模块具备快速灵活的射频芯片组测试仿真与组件特性分析能力，让测试工程师能够更有效率地进行设计验证与产品测试 |
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ADI推出四信道参数量测单元(PMU) (2006.12.13)
美商亚德诺推出第一颗四信道PMU(参数量测单元)。采节省空间的12mm x 12mm TQFP封装的AD5522结合四个单独的信道。其中的每一个信道都包括内建的感测电阻，电流范围分别是5微安、20微安、200微安以及2毫安 |
