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安立知：220 GHz向量网路分析仪让高频晶圆测试一步到位 (2021.06.21)
晶圆测试都是在晶圆上透过自动化探针台自动去寻找晶圆上的目标，自动点击以进行量测，因此除了高频率的VNA之外，对探针与探针台的要求也非常高。晶圆测试大厂安立知（Anritsu）推出了新款VNA，可以一路从70KHz扫频到200GHz，克服传统操作必须分频段架设仪器来满足测量200G特性的问题 |
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5G服务加紧脚步 毫米波频段竞赛越演越烈 (2020.05.21)
随着5G登场，全世界都将关注并观察未来毫米波技术的应用方式。 |
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安立知推出向量网路分析仪 实现70kHz至220GHz量测 (2020.02.06)
安立知(Anritsu)推出 VectorStar ME7838G宽频向量网络分析仪(VNA)－首款能够在单次扫描实现70kHz至220GHz量测的VNA。其可提供前所未有的频率覆盖范围，能让工程师在更广泛的频率范围内更精准及有效地分析设备特性，进而提供准确的设备模型，实现精准模拟优化，缩短设计时间 |
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安立知推出宽带率覆盖范围4埠宽带向量网络分析仪系统 (2015.05.27)
安立知（Anritsu）推出VectorStar ME7838A4 4埠宽带向量网络分析仪（VNA）系统，其具备从 70 kHz至110/125 GHz之全球最宽差动宽带扫描范围，并使用最小的毫米波（mmWave）模块对差动组件进行特性描述时提供高度稳定性和快速量测 |
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旺硅科技携手R&S建置高精度晶圆研发测试解决方案 (2015.05.08)
旺硅科技（MPI）携手罗德史瓦兹（Rohde & Schwarz,R&S）建置高精度晶圆研发测试解决方案，其中包含了 MPI晶圆探针台系统与QAlibria校正软件，提供射频与毫米波组件及集成电路（IC）研发人员从校正（calibration）、仿真（modelling）、设计、验证到除错等完整的晶圆研发测试解决方案 ；进一步确保半导体组件的质量与可靠度 |
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是德科技发表WaferPro Express 2015量测软件平台 (2015.05.06)
是德科技（Keysight）日前发表WaferPro Express 2015量测软件平台，以协助工程师实现自动化晶圆级组件和电路组件特性分析。 WaferPro Express可在芯片级量测系统（包含仪器和晶圆探测器）中，有效地控制所有组件，以便降低量测配置的复杂性，并提供结合自动量测和数据管理的统一平台 |
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安捷伦与Cascade Microtech联手协助工程师简化射频测试 (2014.07.07)
安捷伦科技（Agilent Technologies Inc.）日前宣布与Cascade Microtech建立策略联盟，双方将共同提供经过完整配置与验证的晶圆级射频量测解决方案，以协助工程师加速进行晶圆级半导体量测 |
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KEITHLEY推出高成本效益的组件测试方案 (2008.12.17)
美商吉时利仪器（Keithley）日前发表ACS Basic Edition，以及支持组件测试应用的特性分析和曲线扫瞄软件。最新版ACS Basic Edition软件进一步壮大Keithley的自动化特性分析套件（ACS）阵容 |
