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吉时利扩充4200-SCS半导体特性分析系统功能 (2010.03.09)
美商吉时利仪器（Keithley Instruments）近日宣布，推出最新的4225-PMU Ultra Fast I-V模块，进一步扩充了4200-SCS半导体特性分析系统的功能选择。在4200-SCS既有的强大测试环境中整合了超快速的电压波形产生和电流/电压测量功能 |
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吉时利仪器推出新款缆线解决方案 (2009.04.29)
美商吉时利仪器公司（Keithley Instruments）近日推出首款缆线解决方案（cabling solution），利用一组申请专利中的缆线即可处理I-V、C-V或是脉冲I-V讯号。这款最新的缆线套件能够加速并简化从任何先进半导体参数分析仪链接到Cascade Microtech或SUSS MicroTec探针台进行直流电流-电压（I-V）、电容-电压（C-V）和脉冲I-V测试的过程 |
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KEITHLEY MODEL4200-SCS推出升级版 (2009.04.13)
美商吉时利仪器公司（Keithley）日前针对Model 4200-SCS半导体特性分析系统进行了全面的硬件、韧体和软件升级，7.2版的Keithley Test Environment Interactive（KTEI）升级软件包含了九种新的太阳能电池测试函式库，针对系统电容-电压（C-V）量测功能扩展的频率范围，支持吉时利最新的Model 4200-SCS九插槽机架 |
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KEITHLEY最新推出SOURCEMETER仪器平台 (2008.10.07)
新兴量测方案厂商美商吉时利仪器公司（Keithley Instruments）发表2600A System SourceMeter系列产品。新产品操作简单，且具备卓越的量测效能及弹性，能协助用户加快上市时程、减低测试成本、并简化高质量量测的作业流程 |
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KEITHLEY新推自动特性分析套件(ACS)测试系统 (2008.05.20)
量测方案厂商美商吉时利仪器公司（Keithley Instruments）宣布为其Automated Characterization Suite（ACS）自动特性分析套件软件，加入选择性的晶圆级可靠性（WLR）测试工具，可支持各种半导体可靠度与使用期预测等应用 |
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MIMO测试应用及Model 4200-CVU产品发表会 (2007.10.18)
吉时利仪器将再度发表最新、最强大的测量仪器。此次发表会，将分享的研发成果包括业界领先的MIMO测试应用，以及针对强大的Model 4200半导体特性分析系统平台发表的新款电容电压量测仪器─Model 4200-CVU |
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Keithley发表6.1版交互式KTEI量测软件 (2006.12.29)
吉时利(Keithley)仪器公司发表6.1版交互式KTEI量测软件，适用于4200-SCS半导体特性分析系统。新版KTEI 6.1软件增强了吉时利4200-PIV的脉冲I-V能力，并显著改进脉冲和DC测量的相关性 |
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美商吉时利仪器推出新款射频测试仪器 (2006.02.23)
电子测试仪器厂商美商吉时利仪器公司，宣布推出一系列创新的射频测试仪器，这一系列仪器采用新的测试与量测方法，可节省顾客时间、心力与金钱。这些新产品可应用于设计、发展与制造过程，并且辅助目前在市场上已有的解决方案，包括电池仿真源、半导体特性分析系统以及电源电表组 |
