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CTIMES / 串列測試
科技
典故		 從演化到多元整合──淺介Bus規格標準的變遷

一個想要滿足於不同市場需求的通用型Bus標準界面，能否在不斷升級傳輸速度及加大頻寬之外，達到速度、容量、品質等多元整合、提升效能為一體的願望？
Tektronix發行第一套實體層測試程序 (2008.11.06)
測試、量測及監測儀器廠商Tektronix宣佈發行Serial ATA 3.0版標準實體層測試的第一套測試程序。Tektronix針對SATA實體層設計和偵錯提供完善的高速串列資料測試組合。 Serial ATA儲存介面的第三代規格最大傳輸速度將從3Gb/s倍增至6Gb/s，準備邁向更高性能的儲存解決方案，包括新的固態磁碟機和企業商業儲存需求

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