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应材携手全球45个非营利组织扎根STEAM教育 赋能新世代人才科技创造力 (2025.04.29)
本月起於台北、新竹、台南三地陆续登场，全年预计举办六场次
(圖一)「应材苗懂计画」持续扩大在台影响力，至今年底预计将累计深度接触逾850名学童、家长及教育者 |
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应材携手全球45个非营利组织扎根STEAM教育 赋能新世代人才科技创造力 (2025.04.29)
本月起於台北、新竹、台南三地陆续登场，全年预计举办六场次
● 多元STEAM教育计画遍及亚洲，十多年来每年投入超过100万美元支持亚洲地区的科普教育倡议及行动，连结当地公益夥伴并带动员工叁与 |
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Renishaw 自动化展强势出击 一站满足高精度位置回馈应用需求 (2021.12.03)
2021台北国际自动化工业大展将于12月 15 日正式开展，全球精密量测领导厂商 Renishaw 将于台北南港展览馆一馆 4 楼 L702 摊位带来全方位高精度运动控制及精密量测解决方案，展现精准位置回馈的相关应用为自动化业者们所能带来的绝佳综效 |
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Renishaw 自动化展强势出击 一站满足高精度位置回??应用需求 (2021.12.03)
2021台北国际自动化工业大展将於12月 15 日正式开展，全球精密量测领导厂商 Renishaw 将於台北南港展览馆一馆 4 楼 L702 摊位带来全方位高精度运动控制及精密量测解决方案，展现精准位置回??的相关应用为自动化业者们所能带来的绝隹综效 |
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是德科技与Bluetest携手发展整合式5G New Radio 解决方案 (2018.10.11)
是德科技（Keysight Technologies Inc.）是推动全球企业、服务供应商和政府机构网路连接与安全创新的技术领导厂商，该公司日前宣布进一步扩展与Bluetest的合作关系，以便将是德科技业界首见的5G NR（new radio）网路模拟解决方案整合入Bluetest的??响室，让工程师能对在低於6GHz（FR1）频段运作的5G NR装置进行空中传输（OTA）测试 |
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是德科技与Bluetest携手发展整合式5G New Radio解决方案 (2018.10.11)
是德科技（Keysight Technologies Inc.）日前宣布进一步扩展与Bluetest的合作关系，以便将是德科技业界首见的5G NR（new radio）网路模拟解决方案整合入Bluetest的??响室，让工程师能对在低於6GHz（FR1）频段运作的5G NR装置进行空中传输（OTA）测试 |
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爱德万测试推出Wave Scale MX Channel Card (2017.06.23)
半导体测试设备供应商爱德万测试为Wave Scale MX产品系列增添生力军，推出高解析度、高精确度的混合讯号通道卡，扩大该系列於测试类比数位与数位类比波形转换器的范畴 |
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爱德万测试推出Wave Scale MX Channel Card (2017.06.23)
半导体测试设备供应商爱德万测试为Wave Scale MX产品系列增添生力军，推出高解析度、高精确度的混合讯号通道卡，扩大该系列於测试类比数位与数位类比波形转换器的范畴 |
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芯原Vivante VIP8000神经网路处理器IP每秒可提供超过3 Tera MAC (2017.05.04)
晶片设计平台即服务（Silicon Platform as a Service，SiPaaS）供应商芯原公司推出一款电脑视觉和人工智慧应用的高度可扩展和可程式设计的处理器VIP8000。它每秒可提供超过3 Tera MAC，功耗效率高於1.5 GMAC /秒/毫瓦，为最小面积的采用16FF制程技术的处理器 |
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KLA-Tencor为先进积体电路元件技术推出全新量测系统 (2017.03.20)
KLA-Tencor公司针对次十奈米（sub-10nm）积体电路（IC）元件的开发和量产推出四款创新的量?系统：Archer 600叠对量测系统，WaferSight PWG2图案化晶圆几何形状测量系统，SpectraShape10K光学线宽（CD）量测系统和SensArray HighTemp 4mm即时温度测量系统 |
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KLA-Tencor为先进积体电路元件技术推出全新量测系统 (2017.03.20)
KLA-Tencor公司针对次十奈米（sub-10nm）积体电路（IC）元件的开发和量产推出四款创新的量?系统：Archer 600叠对量测系统，WaferSight PWG2图案化晶圆几何形状测量系统，SpectraShape10K光学线宽（CD）量测系统和SensArray HighTemp 4mm即时温度测量系统 |
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爱德万测试将于东京国际半导体展展示产品与发表技术论文 (2016.11.24)
半导体设备测试供应商爱德万测试(Advantest)将于12月14~16日在东京国际展示场举行的2016年SEMICON Japan国际半导体展上，针对物联网各式应用展示广泛的测试解决方案。今年爱德万测试仍将担任该展会的黄金赞助商 |
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爱德万测试将於东京国际半导体展展示产品与发表技术论文 (2016.11.24)
半导体设备测试供应商爱德万测试(Advantest)将於12月14~16日在东京国际展示场举行的2016年SEMICON Japan国际半导体展上，针对物联网各式应用展示广泛的测试解决方案。今年爱德万测试仍将担任该展会的黄金赞助商 |
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NI引进半导体 ATE数位功能至 PXI (2016.11.15)
NI国家仪器推出 NI PXIe-6570 数位波形仪器与 NI Digital Pattern Editor。此产品让RFIC、电源管理 IC、MEMS 装置与混合讯号 IC 的制造商不再受限于传统半导体自动化测试设备 (ATE) 的封闭架构 |
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NI引进半导体 ATE数位功能至 PXI (2016.11.15)
NI国家仪器推出 NI PXIe-6570 数位波形仪器与 NI Digital Pattern Editor。此产品让RFIC、电源管理 IC、MEMS 装置与混合讯号 IC 的制造商不再受限於传统半导体自动化测试设备 (ATE) 的封闭架构 |
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Tektronix推出Keithley S540功率半导体测试系统 (2016.11.03)
Tektronix（太克科技）推出Keithley S540功率半导体测试系统，这是为高达3kV的功率半导体装置和结构提供的全自动48针脚叁数测试系统。完全整合的S540是专为与最新复合功率半导体材料 （包括碳化矽 （SiC） 和氮化?? （GaN）） 搭配使用而进行最隹化处理，可在一次探头接入中执行所有高压、低压和电容等测试 |
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Tektronix推出Keithley S540功率半导体测试系统 (2016.11.03)
Tektronix（太克科技）推出Keithley S540功率半导体测试系统，这是为高达3kV的功率半导体装置和结构提供的全自动48针脚参数测试系统。完全整合的S540是专为与最新复合功率半导体材料（包括碳化矽（SiC） 和氮化镓（GaN）） 搭配使用而进行最佳化处理，可在一次探头接入中执行所有高压、低压和电容等测试 |
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NI发表高精度PXI电源量测单元 (2016.07.25)
NI 国家仪器於近日推出 NI PXIe-4135 电源量测单元 (SMU) 提供10 fA的量测灵敏度与高达 200 V 的电压输出。透过 NI PXI SMU 的灵活弹性、高通道数密度、测试输出率，工程师可使用 NI PXIe-4135 SMU 量测低电流讯号，并执行晶圆叁数测试、材料研究、低电流感测器与 IC 的特性测试等多种应用 |
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NI发表高精度PXI电源量测单元 (2016.07.25)
NI 国家仪器于近日推出 NI PXIe-4135 电源量测单元 (SMU) 提供10 fA的量测灵敏度与高达 200 V 的电压输出。透过NI PXI SMU 的灵活弹性、高通道数密度、测试输出率，工程师可使用NI PXIe-4135 SMU 量测低电流讯号，并执行晶圆参数测试、材料研究、低电流感测器与IC 的特性测试等多种应用 |
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是德科技将低频杂讯分析仪紧密整合入晶圆级解决方案平台 (2016.07.22)
先进低频杂讯分析仪与WaferPro Express的整合，可实现统包式杂讯量测解决方案，并提供直流特性、电容和RF S参数量测功能。
是德科技（Keysight）日前发表最新版的高效能先进低频杂讯分析仪（A-LFNA）软体，以协助工程师执行快速、准确、可重复的低频杂讯量测 |
ITU最主要的工作就是制定无线传输设施的相关规范，例如手机、飞航通讯、航海通讯、卫星通讯系统、广播电台和电视台等无线传输设施，
