<
帳號:
密碼:

討論新聞主題﹕Tektronix針對ONFI快閃記憶體標準推出測試解決方案

新聞 提要
Tektronix(太克科技)推出針對開放式NAND快閃介面(ONFI)標準的測試解決方案。ONFI 4.0測試解決方案可用於Tektronix高效示波器,包括可分析ONFI匯流排上DDR2/3模式的軟體,以及介面板為基礎的有效探測解決方案。 ONFI標準由ONFI工作小組發布,以簡化在消費性電子產品和計算平台中整合NAND快閃記憶體的程序。ONFI 4.0規格引入了進化的NV-DDR3介面,並具有VccQ = 1.2V運作能力,可有效提升效率和提高功耗,將NV-DDR2和NV-DDR3 I/O速度擴展至667 M /s和800 MT/s,並新增了 ZQ校準功能。 隨著速度的增加和電壓位準下降,使用ONFI匯流排的設計人員將面臨確保相容性、除錯時序問題和存取訊號等挑戰

發表新主題
主題:
文章內容:
  確認碼:  
  一般討論區
一般討論區
新聞報導論壇
活動消息論壇
專欄評析
零組件科技論壇
產業新品中心
  應用論壇區
文章論述論壇
軟體應用論壇
產品應用論壇
Microchip數位電源討論區─贏取大獎
  技術應用區
電子技術類:
電腦科技類:
網際科技類:
軟體資源類:
 
刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3
地址:台北市中山北路三段29號11樓 / 電話 (02)2585-5526 / E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw