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安捷倫於IPC APEX EXPO發表模組化汽車功能測試 (2011.04.14)
安捷倫科技（Agilent）於日前宣佈，已在拉斯維加斯登場的IPC APEX EXPO展會中，展示旗下新的模組化PXI型TS-8900汽車功能測試系統。安捷倫表示，該測試系統為製造中/高腳數電子控制單元的廠商，提供一個產能高出20%的標準平台 |
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安捷倫與GOEPEL聯手發表邊界掃描模組 (2010.07.04)
安捷倫科技（Agilent）與GOEPEL electronic GmbH於日前共同宣佈，推出N1807A-001安捷倫公用程式卡適用的UCM3070邊界掃描插入式模組，該卡為Agilent Medalist i3070系列5內電路測試儀器 (ICT) 的一個選項 |
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安捷倫內電路測試解決方案獲二項技術大奬 (2010.05.20)
安捷倫科技（Agilent）於日前宣佈，旗下的 Agilent Medalist i3070系列5內電路測試（ICT）解決方案，在4月底的2010年上海Nepcon貿易展中獲得兩項技術大獎。這些獎項旨在表彰產品的創新和可靠性，對改善現今成熟的SMT製造環境中的產品品質所做的貢獻 |
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安捷倫推出整合邊界掃描和VTEP技術 (2008.03.11)
安捷倫科技（Agilent）宣佈將為內電路測試（ICT）用戶提供一個創新的方法，讓他們在接觸受限的空間內測試印刷電路板組件（PCBA），而不會犧牲測試涵蓋率或產品上市時程，時可省下夾具的成本及減少測試資源 |
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ASSET與安捷倫宣佈整合內電路與JTAG測試 (2007.08.28)
國際邊界掃描（JTAG/IEEE 1149.1）測試和系統內編程（ISP）廠商ASSET InterTech Inc.與安捷倫科技（Agilent Technologies Inc.）宣佈將擴大雙方長期的銷售、行銷與授權合作協定。根據該協定，ASSET的ScanWorks JTAG系統會整合到安捷倫的3070、Medalist i5000和較新版i3070內電路測試（ICT）系統中，以構成完善的JTAG解決方案 |
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安捷倫推出ENA系列RF網路分析儀 (2006.11.13)
安捷倫科技（Agilent）所發表旗下的ENA系列RF網路分析儀，正式宣告了RF網路分析新標準的誕生。Agilent ENA系列擁有高的效能、向下延伸的頻率範圍及同級產品中最快的速度，是製造與研發工程師評估9 kHz到8.5 GHz之RF元件和電路的理想解決方案 |
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IR發表IRIS系列整合開關器 (2001.07.02)
國際整流器公司(IR)，推出將HEXFET功率MOSFET與控制器IC整合於單一封裝的全新IRIS系列高效率低成本整合開關器(Integrated Switchers)。IRIS整合開關器系列不僅簡化電路設計，更縮小了印刷電路板的使用面積；相較於AC-DC開關式供電系統(SMPS)的離散電路，可節省25%元件數量，而效率卻更為優異 |
