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是德科技IMS 2018大會展示可加速毫米波創新設計和測試方案 (2018.06.13)
是德科技（Keysight Technologies Inc.）於 2018 年 6 月 10 日至 15 日在賓州費城會議中心舉行的國際微波研討會（IMS）中，展出與 5G 通訊、物聯網（IoT）、以及航太與國防（A&D）相關的各式解決方案 |
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Keysight：儀器需跟著時代一同進化 特別是使用介面 (2016.03.29)
為了提升儀器介面的易用性與效能，並提供工程師更好的使用經驗，是德科技（Keysight）推出了新款的Keysight X系列信號分析儀，可顯著增強開發工程師設計新一代裝置的能力 |
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是德科技新款X系列信號分析儀增強介面易用性及效能 (2016.03.04)
是德科技（Keysight）日前推出新款Keysight X系列信號分析儀，可顯著增強開發工程師設計新一代裝置的能力。新機型最令人矚目的是多點觸控操作介面（UI），讓量測設定變得更順暢，並且為新解決方案奠定更紮實的基礎 |
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R&S推出FSWP及FPH兩款全新訊號量測解決方案 (2016.01.05)
羅德史瓦茲 (Rohde & Schwarz,R&S) 正式推出兩款全新訊號量測產品：R&S FSWP相位雜訊與 VCO 分析儀與R&S FPH新一代手持式頻譜分析儀。
R&S FSWP 提供了靈敏度達typ. –175 dBc (1 Hz)且快速的相位雜訊量測，使用者可透過此儀器迅速地進行脈衝源量測以及RF元件的殘留相位雜訊量測，並可透由軟體升級成為訊號及頻譜分析儀 |
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中國計量科學研究院微波參數實驗室採用安立知 VectorStar寬頻系統 (2014.04.28)
Anritsu 安立知微波量測部門 (MMD) 宣布，其 VectorStar ME7838A 110 GHz寬頻向量網路分析儀 (VNA) 系統已獲中國計量科學研究院 (NIM) 微波參數實驗室選用，該實驗室將藉由 Anritsu 安立知先進的測試解決方案來開發晶圓S-參數校準程序標準 |
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安捷倫將雜訊指數量測的頻率大幅延伸至50 GHz (2012.12.24)
安捷倫科技（Agilent Technologies Inc.）宣佈旗下PNA-X網路分析儀推出新的信號源修正雜訊指數量測選項，除了將頻率延伸至43.5 GHz和50 GHz之外，並持續提供業界最高的雜訊指數量測準確度 |
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安捷倫推出新PNA-X網路分析儀選項 (2010.05.27)
安捷倫科技（Agilent）於本週二（5/25）宣佈，推出旗下PNA-X系列微波網路分析儀適用的選項028。該新選項將為放大器、頻率轉換器和混頻器，提供高達50 GHz的準確、源端修正式雜訊指數量測 |
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R&S推出全新最高動態範圍67GHz向量網路分析儀 (2009.11.09)
於羅馬舉行的2009年歐洲微波通訊週，R&S展示出其最新的ZVA67，首台R&S向量網路分析儀頻率涵蓋範圍從10MHz至67GHz。繼承於現有的R&S ZVA系列，它同時是量測速度最快及最高動態範圍的向量網路分析儀 |
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R&S雜訊指數量測選項 適用向量網路分析儀 (2009.10.23)
最新的R&S ZVAB-K30選項可用於R&S ZVB、R&S ZVA及R&S ZVT向量網路分析且可對線性及頻率轉換的雙埠元件作雜訊指數量測。
在射頻及微波領域裡，雜訊指數量測是一項基本的應用 |
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安捷倫推出新的源端修正式雜訊指數量測選項 (2007.10.05)
安捷倫科技（Agilent Technologies）宣佈，旗下最高性能的PNA-X網路分析儀推出源端修正式（source-corrected）雜訊指數量測選項，此高效能的雜訊指數量測技術具有極高的準確度 |
