CTIMES - 搜尋：高電壓量測

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	Tektronix推出Keithley S540功率半導體測試系統 (2016.11.03) Tektronix（太克科技）推出Keithley S540功率半導體測試系統，這是為高達3kV的功率半導體裝置和結構提供的全自動48針腳參數測試系統。完全整合的S540是專為與最新複合功率半導體材料（包括碳化矽（SiC）和氮化鎵（GaN））搭配使用而進行最佳化處理，可在一次探頭接入中執行所有高壓、低壓和電容等測試
	凌華科技推出整合15倍/50倍訊號調理模組之高速PXI Express數字化儀 (2014.06.24) 凌華科技推出新款PXI Express介面數字化儀PXIe-9848H，具備8通道、14位元解析度和100 MS/s取樣率，整合15倍/50倍的訊號調理模組，可支援高達正負100伏特的輸入電壓範圍，並兼具高動態範圍表現能力
	NI發表新款高密度應變和高電壓模組 (2008.12.29) NI近日發表NI 9225--300 V功率量測模組，還有NI 9235與NI 9236--8個通道的應變規量測模組，進一步擴充了C系列資料擷取系列。這幾款模組均支援NI C系列架構裝置，包含NI CompactDAQ隨插即用資料擷取系統、NI CompactRIO控制/擷取系統，與NI單卡式（Single-Board）RIO嵌入式設計介面卡
	安捷倫推出具備曲線追蹤儀功能的元件分析儀 (2008.12.24) 安捷倫科技（Agilent）宣佈推出首款功率元件分析儀/曲線追蹤儀整合解決方案，其可在高達3,000 V的電壓和20 A的電流下對半導體元件進行特性分析。功率元件，包括功率管理IC（PMIC）和功率MOSFET以及車用馬達控制IC，對於高功率與高準確度測試的需求與日俱增