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新思和Silicon Metrics 共同開發單晶片系統記憶體特性分析解決方案 (2002.01.10)
新思科技及Silicon Metrics Corporation十日宣佈推出其記憶體特性分析解決方案。這套方案是以新思科技的NanoSim作為多層級混合信號模擬器及Silicon Metrics的SiliconSmart MR作為開發基礎，並且充分運用了 NanoSim的階層式陣列減化 (HAR) 技術及SiliconSmart MR的記憶體特性分析和塑模工具，可隨時提供設計單晶片系統 (SoC) 所需的記憶體模型 |
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