帳號：
密碼：
相關物件共 1 筆
KEITHLEY推出ACS 3.2版自動特性分析套件軟體 (2008.02.13)
美商吉時利儀器（Keithley Instruments）宣布推出3.2版的ACS（Automated Characterization Suite）軟體，支援半導體元件測試，以及元件、晶圓、晶舟層級特性分析的功能。全新推出的3.2版本加入了強大的多部位並行測試（multi-site parallel test）能力


  十大熱門新聞
1 安勤推出搭載NVIDIA Jetson平台邊緣AI方案新系列
2 貿澤RISC-V技術資源中心可探索開放原始碼未來
3 igus全程移動式岸電系統可安全快速為貨櫃船提供岸電
4 新品上巿 Fluke ii500、ii905和ii915聲學成像儀 (聲像儀)
5 Microchip發佈適用於醫學影像和智慧機器人的PolarFireR FPGA和SoC解決方案協議堆疊
6 Nordic Semiconductor下一代無線SoC為物聯網應用提高性能和靈活性
7 英飛凌新款ModusToolbox馬達套件簡化馬達控制開發
8 Littelfuse NanoT IP67級輕觸開關系列新增操作選項
9 台達全新溫度控制器 DTDM系列實現導體加工精準控溫
10 意法半導體車載音訊D類放大器新增汽車應用優化的診斷功能

AD
刊登廣告 ｜ 新聞信箱 ｜ 讀者信箱 ｜ 著作權聲明 ｜ 隱私權聲明 ｜ 本站介紹
︱ Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3
地址:台北市中山北路三段29號11樓 / 電話 (02)2585-5526 / E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw