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安捷倫推出全新18-GHz差動式TDR探棒套件 (2009.06.12)
安捷倫科技（Agilent Technologies Inc.）發表一款可執行差動時域反射（TDR, Time-Domain Reflectometry）和時域轉態（TDT, Time-Domain Transition）量測的新探棒套件。從事信號完整性測試相關工作的工程師，在設計與驗證高速串列鏈路(high-speed serial links)和元件時，通常都必須執行TDR/TDT分析 |
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安捷倫與Hynix合推記憶體驗證的長線ZIF探針頭 (2009.02.10)
安捷倫科技（Agilent）宣佈與Hynix半導體合作生產一款為DDR和GDDR SDRAM驗證而最佳化的高頻寬、高效能長線ZIF（zero insertion force；零插力）探針頭。該長線ZIF探針頭可讓工程師在探量距離較遠的信號時，能準確地量測高速信號 |
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