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CTIMES / 美商吉時利儀器
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電源管理的好幫手——ACPI

ACPI規格讓作業系統、中央處理單元與周邊設備三方面整合起來,互相交換電源使用訊息,更加簡便而有效益地共同管理電源。
Femtocell測試系統研討會-新竹場 (2009.05.22)
Femtocell無非是當前最受矚目的明星產品之一,它使用現有寬頻線路來達成擴展手機通信服務範圍至室內,對電信業者而言,活用現有Last mile將手機訊號帶進室內,不用花功夫建置高功率基地台
Femtocell測試系統研討會-新竹場 (2009.05.22)
Femtocell無非是當前最受矚目的明星產品之一,它使用現有寬頻線路來達成擴展手機通信服務範圍至室內,對電信業者而言,活用現有Last mile將手機訊號帶進室內,不用花功夫建置高功率基地台
Femtocell測試系統研討會-台北場 (2009.05.21)
Femtocell無非是當前最受矚目的明星產品之一,它使用現有寬頻線路來達成擴展手機通信服務範圍至室內,對電信業者而言,活用現有Last mile將手機訊號帶進室內,不用花功夫建置高功率基地台
Femtocell測試系統研討會-台北場 (2009.05.21)
Femtocell無非是當前最受矚目的明星產品之一,它使用現有寬頻線路來達成擴展手機通信服務範圍至室內,對電信業者而言,活用現有Last mile將手機訊號帶進室內,不用花功夫建置高功率基地台
Keithley推出新一代系統交換平台 (2007.09.21)
美商吉時利儀器公司((Keithley Instruments)發表新一代切換開關以及整合式多功能數位電表(DMM)測試解決方案平台─Series 3700 System Switch/Multimeter以及擴充卡(Plug-in card)系列產品
美商吉時利儀器優越產品獲頒TI卓越供應商獎 (2007.07.24)
美商吉時利儀器公司宣布獲頒德州儀器(TI)2006年卓越供應商獎(Texas Instruments 2006 Supplier Excellent Award)。這個年度獎項旨在獎勵產品與服務達到德州儀器卓越高標準的供應廠商,得獎廠商獲選理由包括在成本、環保責任、科技、反應能力、供貨保證與品質等方面的表現足為楷模表率
Keithley新脈衝測試軟硬體量測 半導體實驗室專用 (2007.04.24)
美商吉時利儀器公司(Keithley Instruments, Inc.),繼榮獲多項大獎的Model 4200-SCS半導體特性量測系統之後,再推出比Model 4200-SCS更先進的脈衝測試軟硬體量測產品。這套半導體實驗室專用的量測系統,結合DC與脈衝測量功能,搭配全方位應用程式工具組,是完整解決方案的最佳選擇
吉時利推出脈衝與圖形產生器新產品 (2006.05.08)
量測解決方案廠商-美商吉時利儀器公司,推出3400系列脈衝/信號圖形產生器,提供關鍵效能優勢,如優越訊號品質、由三奈秒至1000秒之精密脈衝寬度控制,以及簡單、符合直覺之使用介面
美商吉時利儀器擴充其電源電表產品線 (2006.03.23)
量測解決方案廠商美商吉時利儀器公司,宣佈在2600電源電錶系列增加兩個新型號。型號2611與2612為美商吉時利儀器公司在去年推出革命性電源電錶(SMU)的平台後,增加了處理更高電壓及更高電流的能力,可以大幅降低多種電子零件的測試成本
美商吉時利儀器推出新款射頻測試儀器 (2006.02.23)
電子測試儀器廠商美商吉時利儀器公司,宣佈推出一系列創新的射頻測試儀器,這一系列儀器採用新的測試與量測方法,可節省顧客時間、心力與金錢。這些新產品可應用於設計、發展與製造過程,並且輔助目前在市場上已有的解決方案,包括電池模擬源、半導體特性分析系統以及電源電錶組
吉時利設立新營業處 擴充東南亞業務 (2005.10.25)
新興量測需求解決方案的領導廠商,美商吉時利儀器公司(Keithley Instruments, Inc.),宣佈在東南亞業務進行重大擴充,包含擴大新加坡的營業處,並於馬來西亞設立兩所新營業處,負責電性測試及量測的解決方案的銷售與支援業務
Keithley推出低電壓量測時消除雜訊的Model 2182A奈伏計 (2004.09.15)
美商吉時利儀器公司(Keithley Instruments,Inc.)宣佈推出Model 2182A奈伏計,適合研發、量測、奈米科技、超導性和其他低電壓、低電阻應用的低雜訊測量工作。 Model 2182A與Keithley最近推出的Model 6220直流電流源和Model 6221交流/直流電流源結合使用時
吉時利儀器:DC/RF半導體參數測試系統問世 (2003.12.19)
美商吉時利儀器(Keithley Instruments)推出其S600系列的最新產品S680 DC/RF半導體參數測試系統。吉時利儀器表示,全新的SimulTest平行測試軟體可以在一次探針接觸中對多達9個元件進行同步測量,這個軟體使得新系統可以原來200mm晶片的測試時間完成對300mm的晶片進行參數量測

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