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蜂巢式行動裝置製造測試大變革 (2013.02.27) 由於測試工程師必須測試更多的標準與頻段,驗證測試的項目也急遽增加,進而提高了整體測試時間與成本。為了保持競爭力,硬體製造商正努力尋找可減少測試成本的方法,以提高其利潤 |
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使用高效能數位轉換器 提升相位陣列天線測試速度 (2013.02.27) 本文簡單介紹在相位陣列天線測試系統中,與數位轉換器的使用和選擇有關的重要問題。此外,它還提供一個使用模組化Agilent AXIe M9703A(數位轉換器)來提升測試速度的解決方案 |
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揭開頻譜分析儀相位雜訊量測整合 相位偏差結果之神秘面紗 (2012.12.24) 大部分新型的頻譜分析儀都提供一項方便的量測,可決定正弦信號在各種偏移頻率下的整合相位偏差。量測結果可以dBc或度為單位表示。本文將說明如何根據單旁波帶相位雜訊功率與載波比,來計算RMS相位偏差 |
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