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NI将半导体测试系统的PXI SMU通道密度提升6倍 (2018.02.06)
国家仪器(NI)发表PXIe-4163高密度电源量测单元(SMU)，其DC通道密度为上一代NI PXI SMU的6倍，适合用来测试RF、MEMS与混合讯号，以及其他类比半导体元件。
NI全球销售与行销执行??总EricStarkloff表示：「5G、物联网与自动化汽车等高颠覆性技术的出现，迫使半导体产业必须持续推动技术发展，并采用更具效率的方式来进行半导体测试 |
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NI引进半导体 ATE数位功能至 PXI (2016.11.15)
NI国家仪器推出 NI PXIe-6570 数位波形仪器与 NI Digital Pattern Editor。此产品让RFIC、电源管理 IC、MEMS 装置与混合讯号 IC 的制造商不再受限于传统半导体自动化测试设备 (ATE) 的封闭架构 |
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NI：迈向更开放的智慧型半导体测试 (2016.09.09)
身为平台式系统供应商，NI（国家仪器）不断致力于协助工程师与科学家，解决当今全球最艰巨的工程挑战。而看准复杂且日新月异的智慧装置市场，正驱动着半导体设备商对多重测试的强劲需求 |
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LabVIEW 2016全新通道接线帮助工程师简化开发、提升产能 (2016.08.16)
NI 国家仪器推出 LabVIEW 2016 系统设计软体，有助于工程师简化开发，并有效整合生态系统的软体至个别系统。最新版 LabVIEW 提供全新通道接线，可用于简化程式码在平行区段间的复杂通讯 |
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NI 发表高精度PXI电源量测单元 (2016.08.05)
NI 国家仪器于近日推出 NI PXIe-4135 电源量测单元 (SMU) 提供 10 fA 的量测灵敏度与高达 200 V 的电压输出。透过NI PXI SMU 的灵活弹性、高通道数密度、测试输出率，工程师可使用NI PXIe-4135 SMU 量测低电流讯号，并执行晶圆参数测试、材料研究、低电流感测器与IC 的特性测试等多种应用 |
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NI发表高精度PXI电源量测单元 (2016.07.25)
NI 国家仪器于近日推出 NI PXIe-4135 电源量测单元 (SMU) 提供10 fA的量测灵敏度与高达 200 V 的电压输出。透过NI PXI SMU 的灵活弹性、高通道数密度、测试输出率，工程师可使用NI PXIe-4135 SMU 量测低电流讯号，并执行晶圆参数测试、材料研究、低电流感测器与IC 的特性测试等多种应用 |
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NI举办2016自动化测试与量测技术研讨会 (2016.07.25)
NI国家仪器近日于台南、新竹、台北分别举办2016自动化测试与量测技术研讨会，透过系列讲座与实机展示，剖析自动化测试与量测的最新趋势、分享PXI平台如何协助客户进入物联网时代及提供有效管理巨量类比资料(Big Analog Dara)的解决方案 |
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Tektronix THS3000手持式示波器荣获EDN提名百大热门产品 (2012.12.21)
全球示波器最知名制造商 Tektronix 日前宣布，该公司的THS3000掌上型示波器系列已获EDN提名为2012年「百大热门产品」。2012年EDN百大热门产品为一群出版编辑人员，根据其创新、影响力、实用性和受欢迎程度，所票选出的该年度电子业中最重要的产品 |
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吉时利推出低电流分辨率的双信道微电流表/电压源 (2012.10.19)
吉时利仪器公司，推出6482型双信道微电流表/电压源，来扩展其在低电平测量领域的领导地位。该微电流表包含两个 ±30V的独立且非流动性的偏压源，具有1fA测量分辨率。6482型微电流表是吉时利公司精密测试仪表家族的最新产品，它在2U高半机宽度内提供两个独立的微电流表/电压源信道，允许两个信道同时进行6位半测量 |
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吉时利仪器扩展参数测试系统量测能力 (2012.03.27)
吉时利(KEITHLEY)持续强化S530参数测试系统，使这款测试系统为参数测试最具成本效益的解决方案。在最新版本吉时利测试环境软件(KTE V5.4)的支持下，S530目前可被配置为48 pin 完整的Kelvin开关与搭配最新选项以提供脉冲产生器、频率量测和低电压量测 |
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吉时利仪器推出高功率高压系统电源电表仪器 (2012.03.27)
吉时利(KEITHLEY)日前宣布，推出型号2657A高功率系统电源电表仪器。2657A的推出，为吉时利仪器高速、高精度电源量测单元2600A产品系列增加了高电压的功能。这些完备的工具让吉时利的客户能进行更宽广的功率半导体组件和材料的特性分析 |
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Keithley新品发表会 (2011.09.23)
身为测试及量测市场的龙头，美商吉时利随时掌握市场动脉，持续精进技术并推出更多符合客户需求的产品。
本次活动特别邀请吉时利营销总监Mark A. Cejer，一同与媒体先进分享新产品的优势与技术 |
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吉时利仪器强化参数测试系统的处理量与精确度 (2011.04.17)
吉时利仪器（Keithley）于日前宣布，针对S530参数测试系统的进行数个更新；S530参数测试系统目前广泛用于半导体产业。这些更新包括增加吉时利最新的高处理量切换主机、协助完整切换讯号 |
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KEITHLEY MODEL4200-SCS推出升级版 (2009.04.13)
美商吉时利仪器公司（Keithley）日前针对Model 4200-SCS半导体特性分析系统进行了全面的硬件、韧体和软件升级，7.2版的Keithley Test Environment Interactive（KTEI）升级软件包含了九种新的太阳能电池测试函式库，针对系统电容-电压（C-V）量测功能扩展的频率范围，支持吉时利最新的Model 4200-SCS九插槽机架 |
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KEITHLEY推出高成本效益的组件测试方案 (2008.12.17)
美商吉时利仪器（Keithley）日前发表ACS Basic Edition，以及支持组件测试应用的特性分析和曲线扫瞄软件。最新版ACS Basic Edition软件进一步壮大Keithley的自动化特性分析套件（ACS）阵容 |
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美商吉时利推出MIMO RF与C-V量测系统解决方案 (2007.10.25)
无线射频量测仪器大厂吉时利（Keithley）今日在台举行媒体说明会，分别介绍4×4 MIMO RF测试系统以及电容对电压C-V测试模块解决方案的发展现况。
Keithley事业管理副总裁Mark A. Hoersten表示，MIMO天线技术比起SISO技术具有优势的关键之处，在于MIMO能够同步（synchronize）且互不干扰地在同一数据信道中传输多重讯号 |
