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關於電感式位置感測器的11個誤解 (2020.10.28)
準確性、抗噪性和成本效益是電感式位置感測器技術的優勢，本文將逐一消除對電感式位置感測器的一些誤解，並且分別說明精度、抗雜散磁雜訊能力和成本效益。 |
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高速測試挑戰遽增 向量網路分析儀不可或缺 (2020.02.20)
VNA可用於驗證設計模擬，來加速產品上市的時間。在今天，VNA已經廣泛應用於射頻和高頻的測試領域。 |
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解決高速設備驗證挑戰 安立知推模組化ONA (2020.02.11)
對於高速設備檢驗，工程師最常遇到的困難大概可以區分成光與電兩大部分。電的部分主要在於訊號完整性的測試，必須針對最基本的損失與反射特性進行驗證。安立知在訊號完整性上，提供了完整的驗證方式包含VNA即時模擬眼圖與Jitter測試進行訊號完整性分析，另外也提供Intel Delta L方案以進行高速PCB量測 |
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OTA測試 一次解決5G高頻測試大小事 (2020.01.15)
5G毫米波將會帶來新一波的成長契機，卻也伴隨著挑戰。高頻測試挑戰包括量測準確度、測試計畫複雜、測試時間延長。目前來看，OTA量測是解決5G高頻測試挑戰的最適合方案 |
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Silicon Labs小型8位元微控制器具有高精度類比能效 (2015.11.23)
Silicon Labs（芯科實驗室）推出8位元市場中高類比性能和周邊整合度的新型微控制器（MCU）系列產品。新型EFM8LB1 Laser Bee MCU是Silicon Labs EFM8 MCU產品組合中的新品，其整合了高速類比數位轉換器（ADC）、多個數位類比轉換器（DAC）、高精度溫度感測器、兩個比較器和一個支援高達64kB快閃記憶體的72MHz 8051內核 |
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安立知為ShockLine VNA推出可簡化複雜校準程序USB自動校準元件 (2015.04.20)
安立知（Anritsu）為其ShockLine系列向量網路分析儀（VNA）推出MN25208A SmartCal雙埠8.5 GHz自動校準元件。SmartCal 係一隨插即用（plug-and-play）的校準元件，可透過USB連接自動開啟，並從晶片上的記憶體加載校準係數，以執行更快速的設定和無誤差校準 |
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安立知為40 Gb/s零組件及收發器精準量測推出O/E校準模組 (2015.03.24)
安立知（Anritsu）為其VectorStar系列向量網路分析儀（VNA）─MS4640B推出MN4765B O/E 校準模組，為測量40 Gb/s零組件及收發器提供極具成本效益與彈性的解決方案。作為光接收器，MN4765B允許工程師在研發和製造過程中，使用MS4640B系列針對雷射調變器及光接收器進行高度精準穩定的光電量測 |
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Anritsu 針對高速光電的精準特性描述推出 VectorStar 測試解決方案 (2014.06.24)
Anritsu 安立知為 VectorStar MS4640B 向量網路分析儀 (VNA) 系列新推出光電量測應用，其藉由在高達 65 GHz 的 E/O 及 O/ E 元件之幅度及相位的特性描述能力，打造獨一無二的測試解決方案 |
