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R&S推出專用於相位雜訊分析及高達50GHz壓控振盪器量測的FSPN50 (2024.03.13)
隨著R&S FSPN系列相位雜訊分析儀和VCO測試儀的最新款型號推出，Rohde & Schwarz將測量頻率範圍從先前的最大值26.5GHz擴展至50GHz。通過嚴格執行專門針對相位雜訊分析和壓控振盪器(VCO)測量的功能，Rohde & Schwarz為所有R&S FSPN系列型號提供了價格性能比
Microchip推出53100A型相位雜訊分析儀 用於精準振盪器特性分析 (2020.04.30)
Microchip今天發佈新一代相位雜訊分析儀，產品型號為53100A。這款相位雜訊測試儀可協助研發人員和製造工程師更精確地測量頻率訊號，包括由原子鐘產生的訊號，以及由其他高頻參考模組和子系統產生的訊號
時域/頻域的抖動測量 (2014.11.26)
高速資料鏈路使得存取資訊的速度大幅提升。 這使得系統設計人員從初始設計、測試到標準遵從， 各個應用層都面臨著更種技術挑戰。 (刊頭) 在今天，我們存取資訊的速度大幅提升，如我們在網際網路上接入視訊流、利用各種雲端應用等
安捷倫信號源分析儀協助Sirenza加快測試時間 (2005.04.19)
安捷倫科技宣佈，Sirenza Microdevices新的自動化測試機台採用Agilent E5052A Signal Source Analyzer（SSA；信號源分析儀）之後，生產力已提高10倍之多。安捷倫科技的SSA取代了Sirenza複雜機架上多達12件的測試設備，使該公司只需用單一部儀器，即可執行RF和微波信號量測，且所花的時間只有原先的一小部份，結果，六個月內就回收了這項設備的投資


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