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惠瑞捷之記憶體測試系統新增冗餘分析功能 (2009.07.15)
惠瑞捷(Verigy) 宣布為旗下V6000 WS測試系統新增記憶體冗餘分析功能SmartRA。SmartRA是一套可擴充、具備高度彈性及成本效益的解決方案，能幫助製造商解決DRAM冗餘分析中日漸成長的失敗儲存空間與效能需求 |
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惠瑞捷推出Inovys半導體晶片除錯解決方案 (2008.06.25)
有鑑於市場對更高效率之除錯方法的需求不斷增加，半導體測試廠商惠瑞捷(Verigy) 特別推出Inovys半導體除錯解決方案 (Silicon Debug Solution)，以加快新的系統單晶片 (SoC) 元件的量產時間 |
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