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立錡與宜特共同揭示MEMS G-Sensor檢測合作成果 (2015.01.13)
立錡科技與宜特科技宣布一項MEMS檢測合作成果，雙方針對立錡積極開發的MEMS G-Sensor提出最佳分析除錯解決方案。基於宜特建構出的一代MEMS G-Sensor標準失效分析流程，2013年雙方已有成功的合作經驗；2014年在二代MEMS分析技術
滿足穿戴產品、3D封裝驗證需求 宜特引進高端設備 (2014.10.13)
在穿戴式與行動裝置普及、電子產品朝輕薄短小演進下，產品內部結構的尺寸越趨微細淺薄，分析量測或觀察產品各種特性亦面臨前所未有的極限。為因應客戶之需，iST宜特台灣總部增加資本支出引進並升級一批高端設備，包括故障分析缺陷偵測- Thermal EMMI（InSb）；材料表面元素分析- XPS/ ESCA 及Dual-Beam FIB升級，並於10月正式對外檢測使用
宜特完成28奈米IC電路修改除錯技術 (2012.02.16)
隨摩爾定律的腳步，半導體市場在2012年將會正式跨入28奈米製程世代。宜特日前宣佈，該公司從2010年開始佈局，2011年與知名IC設計大廠合作，歷經研究測試，2012年正式突破技術門檻，不僅替客戶完成難度極高的28奈米最小線寬修改，且電路除錯能力更深入至IC最底層(Metal 1)


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