帳號:
密碼:
相關物件共 1
KLA-Tencor全新控片檢測系統提升晶片生產開發 (2008.09.08)
KLA-Tencor公司推出專為IC市場設計的全新控片檢測系統Surfscan SP2XP,這套新的系統是去年KLA-Tencor針對晶圓製造市場推出的同名工具。全新的Surfscan SP2XP對於矽、多晶矽和金屬薄膜缺陷具備更高的靈敏度,相較於前一代產品Surfscan SP2,Surfscan SP2XP加強了依據缺陷類型及大小分類的能力,並配備真空搬運裝置和業界最佳的生產能力


  十大熱門新聞
1 英飛凌XENSIV PAS CO2 5V感測器提高建築效能及改善空氣品質
2 Bourns全新薄型高爬電距離隔離變壓器適用於閘極驅動和高壓電池管理系統
3 Sophos新款XGS系列桌上型防火牆及防火牆軟體更新版
4 宇瞻智慧物聯展示ESG監控管理與機聯網創新方案
5 Littelfuse推出首款用於SiC MOSFET柵極保護的非對稱瞬態抑制二極體系列
6 瑞薩與英特爾合作為新款Intel Core Ultra 200V系列處理器提供最佳化電源管理
7 Pilz安全可配置小型控制器PNOZmulti 2適用於分散式周邊設備
8 是德科技可攜式800GE桌上型系統 適用於AI和資料中心互連測試
9 三菱電機新型MelDIR品牌80×60像素熱二極管紅外線感測器
10 Microchip新款64位元PIC64HX微處理器支援後量子安全高效

AD

刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3
地址:台北市中山北路三段29號11樓 / 電話 (02)2585-5526 / E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw