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NI將半導體測試系統的PXI SMU通道密度提升6倍 (2018.02.06)
國家儀器(NI)發表PXIe-4163高密度電源量測單元(SMU),其DC通道密度為上一代NI PXI SMU的6倍,適合用來測試RF、MEMS與混合訊號,以及其他類比半導體元件。 NI全球銷售與行銷執行副總EricStarkloff表示:「5G、物聯網與自動化汽車等高顛覆性技術的出現,迫使半導體產業必須持續推動技術發展,並採用更具效率的方式來進行半導體測試
NI引進半導體 ATE數位功能至 PXI (2016.11.15)
NI國家儀器推出 NI PXIe-6570 數位波形儀器與 NI Digital Pattern Editor。此產品讓RFIC、電源管理 IC、MEMS 裝置與混合訊號 IC 的製造商不再受限於傳統半導體自動化測試設備 (ATE) 的封閉架構
NI:邁向更開放的智慧型半導體測試 (2016.09.09)
身為平台式系統供應商,NI(國家儀器)不斷致力於協助工程師與科學家,解決當今全球最艱鉅的工程挑戰。而看準複雜且日新月異的智慧裝置市場,正驅動著半導體設備商對多重測試的強勁需求
LabVIEW 2016全新通道接線幫助工程師簡化開發、提升產能 (2016.08.16)
NI 國家儀器推出 LabVIEW 2016 系統設計軟體,有助於工程師簡化開發,並有效整合生態系統的軟體至個別系統。 最新版 LabVIEW 提供全新通道接線,可用於簡化程式碼在平行區段間的複雜通訊
NI 發表高精度PXI電源量測單元 (2016.08.05)
NI 國家儀器於近日推出 NI PXIe-4135 電源量測單元 (SMU) 提供 10 fA 的量測靈敏度與高達 200 V 的電壓輸出。透過 NI PXI SMU 的靈活彈性、高通道數密度、測試輸出率,工程師可使用 NI PXIe-4135 SMU 量測低電流訊號,並執行晶圓參數測試、材料研究、低電流感測器與 IC 的特性測試等多種應用
NI發表高精度PXI電源量測單元 (2016.07.25)
NI 國家儀器於近日推出 NI PXIe-4135 電源量測單元 (SMU) 提供10 fA的量測靈敏度與高達 200 V 的電壓輸出。透過 NI PXI SMU 的靈活彈性、高通道數密度、測試輸出率,工程師可使用 NI PXIe-4135 SMU 量測低電流訊號,並執行晶圓參數測試、材料研究、低電流感測器與 IC 的特性測試等多種應用
NI舉辦2016自動化測試與量測技術研討會 (2016.07.25)
NI國家儀器近日於台南、新竹、台北分別舉辦2016自動化測試與量測技術研討會,透過系列講座與實機展示,剖析自動化測試與量測的最新趨勢、分享PXI平台如何協助客戶進入物聯網時代及提供有效管理巨量類比資料(Big Analog Dara)的解決方案
Tektronix THS3000手持式示波器榮獲EDN提名百大熱門產品 (2012.12.21)
全球示波器最知名製造商 Tektronix 日前宣佈,該公司的THS3000掌上型示波器系列已獲EDN提名為2012年「百大熱門產品」。2012年EDN百大熱門產品為一群出版編輯人員,根據其創新、影響力、實用性和受歡迎程度,所票選出的該年度電子業中最重要的產品
吉時利推出低電流解析度的雙通道微電流錶/電壓源 (2012.10.19)
吉時利儀器公司,推出6482型雙通道微電流錶/電壓源,來擴展其在低電平測量領域的領導地位。該微電流錶包含兩個 ±30V的獨立且非流動性的偏壓源,具有1fA測量解析度。6482型微電流錶是吉時利公司精密測試儀錶家族的最新產品,它在2U高半機寬度內提供兩個獨立的微電流錶/電壓源通道,允許兩個通道同時進行6位半測量
吉時利儀器擴展參數測試系統量測能力 (2012.03.27)
吉時利(KEITHLEY)持續強化S530參數測試系統,使這款測試系統為參數測試最具成本效益的解決方案。在最新版本吉時利測試環境軟體(KTE V5.4)的支援下,S530目前可被配置為48 pin 完整的Kelvin開關與搭配最新選項以提供脈衝產生器、頻率量測和低電壓量測
吉時利儀器推出高功率高壓系統電源電錶儀器 (2012.03.27)
吉時利(KEITHLEY)日前宣佈,推出型號2657A高功率系統電源電錶儀器。2657A的推出,為吉時利儀器高速、高精度電源量測單元2600A產品系列增加了高電壓的功能。這些完備的工具讓吉時利的客戶能進行更寬廣的功率半導體元件和材料的特性分析
Keithley新品發表會 (2011.09.23)
身為測試及量測市場的龍頭,美商吉時利隨時掌握市場動脈,持續精進技術並推出更多符合客戶需求的產品。 本次活動特別邀請吉時利行銷總監Mark A. Cejer,一同與媒體先進分享新產品的優勢與技術
吉時利儀器強化參數測試系統的處理量與精確度 (2011.04.17)
吉時利儀器(Keithley)於日前宣佈,針對S530參數測試系統的進行數個更新;S530參數測試系統目前廣泛用於半導體產業。這些更新包括增加吉時利最新的高處理量切換主機、協助完整切換訊號
KEITHLEY MODEL4200-SCS推出升級版 (2009.04.13)
美商吉時利儀器公司(Keithley)日前針對Model 4200-SCS半導體特性分析系統進行了全面的硬體、韌體和軟體升級,7.2版的Keithley Test Environment Interactive(KTEI)升級軟體包含了九種新的太陽能電池測試函式庫,針對系統電容-電壓(C-V)量測功能擴展的頻率範圍,支援吉時利最新的Model 4200-SCS九插槽機架
KEITHLEY推出高成本效益的元件測試方案 (2008.12.17)
美商吉時利儀器(Keithley)日前發表ACS Basic Edition,以及支援元件測試應用的特性分析和曲線掃瞄軟體。最新版ACS Basic Edition軟體進一步壯大Keithley的自動化特性分析套件(ACS)陣容
美商吉時利推出MIMO RF與C-V量測系統解決方案 (2007.10.25)
無線射頻量測儀器大廠吉時利(Keithley)今日在台舉行媒體說明會,分別介紹4×4 MIMO RF測試系統以及電容對電壓C-V測試模組解決方案的發展現況。 Keithley事業管理副總裁Mark A. Hoersten表示,MIMO天線技術比起SISO技術具有優勢的關鍵之處,在於MIMO能夠同步(synchronize)且互不干擾地在同一資料通道中傳輸多重訊號


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