CTIMES - 顯示器檢測系統

CTIMES / 顯示器檢測系統

科技
典故

IEEE的創立，是在於主導電子學的地位、促進電子學的創新，與提供會員實質上的協助。

NI顯示器檢測系統技術研討會圓滿落幕 (2002.07.15)
NI台灣分公司(美商慧碁)7月份在台北、新竹舉辦2場「顯示器檢測系統技術研討會」日前已圓滿落幕，並於會後獲得廣大迴響。此次研討會除了展示整套檢測系統並現場實際操作示範外，國內許多知名手機、PDA、顯示器等製造廠商亦熱烈參與討論

NI發表顯示器檢測系統 (2002.04.12)
National Instruments(慧碁)發佈了一套功能強大、現成即用的軟硬體整合解決方案—全新的NI顯示器檢測系統(NI Display Test)，用於可靠的平面顯示器檢測。NI顯示器測試系統為生產線上及實驗室裏的工程師提供了一套性能超群的測試方案，足以勝任目前及未來各種測試、量測領域的任務需求