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彈性可擴充測試方法 將成為左右OTA測試成敗關鍵 (2020.01.06)
新一代5G主動式天線陣列裝置現在備有主動式波束賦形電子，可提供多種非線性RF元件，例如數位控制PA、LNA、相位移轉器與混合器。新的設計會以單一封裝整合多通道設定 |
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實踐投資亞太承諾 NI結盟蔚華科技打造半導體量測新紀元 (2019.09.11)
國家儀器（NI）聯手蔚華科技舉辦雙方結盟記者會，由NI國家儀器台灣區總經理林沛彥與蔚華科技總經理高瀚宇共同出席，說明雙方今年5月的重大結盟。未來NI將持續借助蔚華完善的經銷服務體系和應用工程技術，為大中華與台灣客戶提供客製化解決方案與即時的自動化量測服務，實踐NI投資大中華區市場的承諾 |
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NI、Tokyo Electron、FormFactor與Reid-Ashman展示5G mmWave半導體晶圓探針測試解決方案 (2019.05.22)
NI今日發表及展示與Tokyo Electron、FormFactor與Reid-Ashman共同開發的5G mmWave晶圓探針測試解決方案。
現場展示的解決方案可因應5G mmWave晶圓探針測試的各項技術挑戰，協助半導體製造商降低5G mmWave IC的風險、成本，並加快上市時間 |
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5G商轉在即 NI以靈活系統架構因應企業多元測試需求 (2018.08.10)
隨著萬物互聯時代來臨，裝置及感測器數量不斷增加，為精準傳輸複雜訊息，自動化測試成物聯裝置至關重要的研發環節。以軟體為中心的平台供應商國家儀器(NI)，協助業界加速自動化測試與自動化量測系統的開發進程和效能提升 |
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NI將半導體測試系統的PXI SMU通道密度提升6倍 (2018.02.06)
國家儀器(NI)發表PXIe-4163高密度電源量測單元(SMU)，其DC通道密度為上一代NI PXI SMU的6倍，適合用來測試RF、MEMS與混合訊號，以及其他類比半導體元件。
NI全球銷售與行銷執行副總EricStarkloff表示：「5G、物聯網與自動化汽車等高顛覆性技術的出現，迫使半導體產業必須持續推動技術發展，並採用更具效率的方式來進行半導體測試 |
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NI引進半導體 ATE數位功能至 PXI (2016.11.15)
NI國家儀器推出 NI PXIe-6570 數位波形儀器與 NI Digital Pattern Editor。此產品讓RFIC、電源管理 IC、MEMS 裝置與混合訊號 IC 的製造商不再受限於傳統半導體自動化測試設備 (ATE) 的封閉架構 |
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Tektronix推出Keithley S540功率半導體測試系統 (2016.11.03)
Tektronix（太克科技）推出Keithley S540功率半導體測試系統，這是為高達3kV的功率半導體裝置和結構提供的全自動48針腳參數測試系統。完全整合的S540是專為與最新複合功率半導體材料 （包括碳化矽 （SiC） 和氮化鎵 （GaN）） 搭配使用而進行最佳化處理，可在一次探頭接入中執行所有高壓、低壓和電容等測試 |
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NI：邁向更開放的智慧型半導體測試 (2016.09.09)
身為平台式系統供應商，NI（國家儀器）不斷致力於協助工程師與科學家，解決當今全球最艱鉅的工程挑戰。而看準複雜且日新月異的智慧裝置市場，正驅動著半導體設備商對多重測試的強勁需求 |
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NI將於Semicon Taiwan展出智能型開放式ATE自動化測試設備 (2016.09.07)
在充滿智慧裝置的物聯網時代，多元且複雜化的半導體零組件應運而生，讓半導體廠商在進行各項待測物量測時面臨極大的挑戰。NI國家儀器於9月7日到9月9日2016 SEMICON Taiwan期間 |
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淺談NI模組化量測策略 (2016.08.22)
模組化量測之所以能成為量測市場的顯學之一，最大的功臣，應該屬於NI，而隨著該領域的競爭日益激烈，NI理當也要祭出對應的競爭策略才是。 |
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NI推出強化版半導體測試管理軟體 (2016.04.01)
NI 國家儀器（National Instruments；NI）作為致力於為工程師與科學家提供解決方案以應對全球最嚴峻的工程挑戰的供應商，推出TestStand半導體模組（TestStand Semiconductor Module），為測試系統工程師提供所需的軟體工具來快速開發、佈署並維護最佳化的半導體測試系統 |
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NI 推出強化版半導體測試管理軟體 (2016.03.31)
國家儀器（National Instruments；NI）作為致力於為工程師與科學家提供解決方案以應對全球最嚴峻的工程挑戰的供應商，推出 TestStand 半導體模組 （TestStand Semiconductor Module），為測試系統工程師提供所需的軟體工具來快速開發、佈署並維護最佳化的半導體測試系統 |
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NI透過無線測試系統降低無線生產測試成本 (2015.08.05)
NI國家儀器推出無線測試系統（WTS），一款可大幅降低大量無線製造測試成本的解決方案。儘管無線測試的複雜度與日俱增，有了這款具有最佳量測速度與平行測試功能的系統，企業即可有效降低測試成本，將生產效率提升好幾倍 |
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安立知完成GCT半導體LTE-Advanced單晶片4X4 MIMO測試 (2015.05.14)
安立知（Anritsu）MD8430A訊令測試儀與Rapid Test Designer（RTD）軟體，成功為GCT半導體公（GCT Semiconductor）完成其4G LTE-Advanced晶片（GDM7243Q）測試。
GCT半導體是先進4G行動半導體解決方案設計供應商，提供搭載支援LTE 4X4 MIMO載波聚合（CA）技術的先進FDD-TDD LTE Cat. 5/6/7單晶片解決方案 |
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量測市場策略觀察 各有各的好 (2014.10.30)
(刊頭)
（Source：blog.presentationload.com）
引言
市場的快速變動，迫使量測業者必須作出反應，
以維持在市場的競爭實力，基於每家公司的背景不同，
所採取的策略也有所差異，但可以確定的是，他們各自擁有一片天空 |
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量測市場策略 各有各的好 (2014.09.10)
今年對於NI（美國國家儀器）來說，無非是變化相當大的一年，從基礎型的箱型量測儀器，或是先前所推出的STS（半導體測試系統），都可說是NI在產品策略上極具里程碑的重要進展 |
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NI：PXI打造最低成本半導體測試系統 (2014.09.04)
在摩爾定律的發展極限之下，產生更多裝置連結與資料分析的需求。也由於物聯網與智慧手機的發展，使得類比與RF訊號更顯得重要。未來的訊號，將不再以純類比訊號為主，而是更為複雜的類比與RF混合訊號，這使得傳統ATE（半導體自動化測試設備）系統出現了瓶頸 |
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NI 半導體測試系統，開啟 ATE 測試新未來 (2014.09.01)
美商國家儀器 (National Instruments, NI) 將於 9 月 3 日至 9 月 5 日於 「2014 SEMICON Taiwan 國際半導體展」 發表最新半導體測試儀，歡迎前往 NI 攤位共同探究、了解 NI 最新半導體測試系統 |
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NI 透過 PXI 架構的測試系統，降低半導體 ATE 的成本 (2014.08.04)
美商國家儀器提供了最佳的解決方案，協助工程師和科學家克服世界上最艱鉅的工程挑戰，並於今天推出 NI 半導體測試系統 (Semiconductor Test System，簡稱 STS) 系列。基於 PXI 架構的自動化測試系統，針對半導體生產測試環境的 PXI 模組，有助於降低 RF 和混合式訊號裝置的測試成本 |
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PXI TAC 2013 – 多元應用氣魄登場 (2013.05.23)
邁入第十屆的 PXI TAC，每年總在眾所期待之下，展開一連串的宣傳。今年延續去年 RF 元年的氣勢，PXI TAC 特別規畫 RF 展覽館，加上一整天的 RF 專題演講，讓所有 RF 領域的工程師們，在一整天的時間內，能充分了解 RF 應用在 PXI 架構下的優勢 |
