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CTIMES / 儀器設備業
科技
典故
USB2.0——讓電腦與周邊設備暢通無阻

USB2.0是一種目前在PC及周邊設備被廣為應用的通用串列匯流排標準,擺脫了過去侷限於PC的相關應用領域,而更深入地應用在數位電子消費產品當中。
Bureau Veritas ADT獲IECEE認可 (2009.08.03)
Bureau Veritas ADT(立德國際商品試驗)已獲得國際電工協會(IECEE)審核認可,成為可執行充電電池(BATT IEC 62133)之CB測試實驗室(CBTL),並自2009年7月22日起正式執行測試。資格已正式列入IECEE線 上認證資料庫中,並可在IECEE的網站上查詢到
高速電路電源及訊號完整性分析技術新產品發表會-新竹場 (2009.07.30)
在下一代電路板設計您是否將面臨引進新的技術或改變設計方式來達到設計目標?此次「高速電路電源及訊號完整性分析技術新產品發表會」將介紹電源分析技術應用及多種新技術的信號完整性分析應用,包括 DDR2、 DDR3、HDMI、 PCI Express…等技術
Tektronix教育人員輔助教學資源套件現已供貨 (2009.07.30)
Tektronix宣佈推出完備的全新教育人員資源套件,這個套件使用實用的問題式實驗室實驗,教導學生基本電子測試與量測的基礎原理。這個套件的設計,有助於協助學生充分準備,一出職場即可立即上手,並能夠使用最新的測試與量測儀器
安捷倫ENA網路分析儀新增6.5及14 GHz選項 (2009.07.29)
安捷倫科技(Agilent)宣佈推出Agilent E5071C ENA網路分析儀的6.5和14 GHz選項。這些選項加上Agilent E5071C現有的4.5、8.5和20 GHz頻率範圍,可以讓使用者針對特定的應用來選擇最合適的頻率,進而大幅降低生產線的測試成本
NI發表新款PXI數位儀器與高頻寬機箱 (2009.07.28)
NI近日發表2組新款的32個通道PXI Express架構數位儀器,還有新款8槽式高頻寬PXI Express 3U機箱,可用於高階的自動化測試應用。 NI PXIe-6544/45為可選擇電壓的數位波形產生器/分析器,分別可支援最高100與200 MHz的時脈,以簡化測試應用
安捷倫發表快速、堅固之整合式 RF綜合分析儀 (2009.07.27)
安捷倫科技(Agilent)針對旗下的Agilent N9912A FieldFox RF綜合分析儀,推出干擾分析儀選項,該儀器是整合程度相當高的RF手持式儀器,適用於無線網路的安裝與維護(I&M)。該公司並首例為儀器提供新的頻譜分析儀功能
2009國際廣播會議 R&S聚焦DVB-T2標準 (2009.07.27)
2009年的國際廣播會議(International Broadcasting Convention,IBC)將於9月10-14日在阿姆斯特丹舉行。羅德史瓦茲(Rohde & Schwarz,R&S)將聚焦於新的DVB-T2標準,並於第8館D35攤陳列出最新型的DVB-T的發射機與量測設備
R&S為SMF100A微波訊號產生器新增功能選項 (2009.07.24)
R&S SMF100A新的功能選項-R&S SMF-B32/R&S SMF-B34(輸出功率強化)及R&S SMF-B22(相位雜訊最佳化),現已正式推出。搭配最新推出之功能選項後,R&S SMF100A已呈現最佳化之輸出功率(Output power)及單旁波帶相位雜訊(SSB)表現
SEMI:六月北美半導體設備B/B值為0.77 (2009.07.22)
國際半導體設備材料產業協會(SEMI),日前公佈了最新Book-to-Bill訂單出貨報告, 報告中指出,2009年六月份北美半導體設備製造商三個月平均訂單金額為3.234億美元,B/B Ratio(Book-to-Bill Ratio, 訂單出貨比) 為0.77
NI 針對自動化視覺檢驗,發表嵌入式視覺系統 (2009.07.22)
NI近日發表新款嵌入式視覺系統(Embedded vision system),可讓製造工程師與系統整合商建立高速的即時機器視覺系統,適用於產品揀選、組件識別,與包裝檢驗的應用。 NI EVS-1464RT嵌入式視覺系統為高效能的多核心控制器,可處理多組IEEE 1394與GigE Vision相機的影像
Aeroflex與w2bi合作開發新LTE手機認證平台 (2009.07.21)
Aeroflex與w2bi宣布已簽訂一項協定,將整合雙方的測試專業意見與技術,以共同開發針對LTE行動裝置之網絡認證平台。 Aeroflex 7100 LTE測試系統,整合了w2bi的Q-GENERIC自動測試解決方案,將可為網絡營運業者、手機製造商和全球的測試實驗室創造一個全面的LTE手機認證平台
Tektronix與NI延長合作 共推創新產品計劃 (2009.07.20)
Tektronix與美商國家儀器(National Instruments,NI)宣布,兩家公司已推出共同創造新產品的計畫,延長20多年的合作關係。這些新產品將為設計驗證、製造測試、科學研究與嵌入式測試領域的工程師與科學家,提高生產力並降低成本
SEMI:半導體逐步復甦 設備業2010年第一季回春 (2009.07.16)
國際半導體設備材料產業協會(SEMI),日前在SEMICON West記者會上,發表年中半導體資本設備預測報告。報告中預測,2009年的半導體設備銷售額將達到141.4億美元,較2008年減少52%,但2010年將可望有47%的成長
孕龍科技推出全新邏輯分析儀 (2009.07.16)
孕龍科技宣佈即將於八月份推出全新LAP-B(702000+)產品。LAP-B系列產品具備多通道、高取樣頻率和高壓縮率等多樣特性,目前最新發行的LAP-B(702000+)更新增了折疊功能,使開發工程師更快速的進行分析多樣的訊號
惠瑞捷之記憶體測試系統新增冗餘分析功能 (2009.07.15)
惠瑞捷(Verigy) 宣布為旗下V6000 WS測試系統新增記憶體冗餘分析功能SmartRA。SmartRA是一套可擴充、具備高度彈性及成本效益的解決方案,能幫助製造商解決DRAM冗餘分析中日漸成長的失敗儲存空間與效能需求
NI於2009 Q3新增多項免費實機課程 (2009.07.15)
美商國家儀器(National Instruments,NI)在2009 Q3推出一系列的免費進修課程,讓工程師可以藉由這一系列的課程進修,增加職場的競爭能力。 在台北地區,NI新增「LabVIEW 多核心程式設計教學」,與「標準量測平台介紹與自動化測試系統的建立」兩堂課
Anritsu新ㄧ代基地台分析儀可量測4G技術 (2009.07.14)
Anritsu Company日前發表高效能手持基地台分析儀BTS Master MT8221B,其專門開發以支援新興的4G標準及已部署的2G/3G網路。MT8221B的平台提供了可量測如LTE和WiMAX等技術的20MHz解調能力,及可外部解調近乎任何其他寬頻訊號的30-MHz零跨距IF輸出
致茂PXI測試模組於美國SEMICON West正式發表 (2009.07.14)
身為PXI聯盟執行成員(Executive Member)的致茂電子,近日宣佈已成功研發出PXI平台的半導體邏輯訊號測試模組,現已提供100MHz可程式數位訊號測試模組(Model 36010),以及PXI介面的四象限DUT電源供應模組(Model 36020)
安立知發表可量測4G技術的新ㄧ代基地台分析儀 (2009.07.09)
Anritsu發表高效能手持基地台分析儀BTS Master MT8221B ,其專門開發以支援新興的4G標準及已部署的2G/3G網路。MT8221B的平台提供了可量測如LTE和WiMAX等技術的20MHz解調能力,及可外部解調近乎任何其他寬頻訊號的30-MHz零跨距IF輸出
安捷倫數位量測論壇 (2009.07.08)
作為首屈一指的量測儀器公司,七十年來,安捷倫科技致力於量測技術發展,在客戶導向的市場趨勢中,持續提供支持台灣高科技產業的競爭力提升。連續九年,舉辦11次安捷倫電子展

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