CTIMES - 儀器設備業

透過自動高階補償改善疊對控制 (2008.05.05)
隨著關鍵尺寸逐年縮小，疊對預算變得越來越緊縮。先進刻蝕機的成本成為在非關鍵層上使用最先進的掃描式曝光機的阻礙，導致在不同的層使用不同的刻蝕機；這種做法通常被稱為「混搭」

KLA-Tencor新光罩檢測技術可執行多缺陷檢測 (2008.05.02)
KLA-Tencor公司推出最新光罩檢測技術，名為「晶圓平面光罩檢測（Wafer Plane Inspection，WPI）」。WPI不但能勝任對良率至關重要的32奈米光罩缺陷檢測，其運行速度也比先前的檢測系統的快40%，並且可能可以縮減檢測在整體光罩生產中所佔的時間

Spybusters選擇Tektronix協助對抗商業間諜 (2008.05.02)
Tektronix宣佈，Murray Associates(註冊為Spybusters,LLC)已選用具DPX即時RF顯示技術的Tektronix即時頻譜分析儀(RTSA)，作為其協助安全顧問公司找出無線竊聽裝置的工具，包括位於客戶設施內的會議室及安全交易大樓

德州儀器類比媒體說明會 (2008.04.30)
德州儀器亞太區電源產品技術總監嚴宗福，將帶領大家以最嚴苛的通訊設備業界標準面試TI最新的電源管理專家候選人。

Anritsu發表完整TD-SCDMA測試解決方案 (2008.04.29)
Anritsu日前發表三款新選購配備，使其BTS Master及Spectrum Master系列成為第一項針對目前建置於中國TD-SCDMA網路之部署、安裝及維護的完整TD-SCDMA手持測試解決方案。透過這些選購配備，現場測試工程師、技師及包商將可更精準、快速而輕易地進行TD-SCDMA訊號之RF、解調及Over-the-Air(OTA)量測

R&S與HSPA到HSPA+演進同步並進 (2008.04.29)
羅德史瓦茲的HSPA+訊號產生器解決方案，新軟體選項涵蓋所有HSPA+接收機，基頻模組和射頻前端（包含多重輸入，多重輸出測試）的實體層測試。羅德史瓦茲向量和基頻訊號產生器新的選項包含HSPA+所定義實體層的延伸部分

R&S訊號產生器新增DAB和T-DMB選項 (2008.04.29)
羅德史瓦茲(Rohde & Schwarz, R&S)的訊號產生器在無線電話和車用無線通訊上提供測試彈性，利用單一儀器即可產生所有傳統無線行動和GPS,DAB,DAB-H或是T-DMB行動電視等規格的訊號

羅門哈斯槽溝新設計使鎢CMP耗材成本降低20％ (2008.04.28)
羅門哈斯電子材料（Rohm and Haas Electronic Materials）CMP Technologies事業部推出了一項IC1000 AT和VisionPad CMP拋光墊的革命性槽溝設計。此項新型設計能夠降低高達35％的耗漿量，這相當於將鎢CMP的總耗材成本降低約20％

NI舉辦替代能源與綠色工程技術研討會 (2008.04.28)
全球虛擬儀控量測大廠美商國家儀器（NI）即將在明日（29日）開始陸續在台北、新竹（4月30日）及高雄（5月6日）舉辦替代能源與綠色工程技術研討會。會中將針對替代能源與綠色工程、虛擬儀控用於太陽能板製程、燃料電池簡介與檢測、能源品質監控、環境能源監控、太陽能最大功率追蹤演算法設計與原型開發等議題

TSIA執行長:整合產業提升台灣半導體國際形象 (2008.04.28)
2008年台北國際半導體產業展（2008 SemiTechTaipei）即將於6月11日在台北世貿三館舉行。此次的展會共有2大主軸、3大主題，除了邀請海內外專業講師與會，探討半導體產業的發展外

太克最新3 Gb/s SDI支援其波形監視器 (2008.04.28)
Tektronix針對WFM和WVR系列波形監視器和光柵波形掃描器（Rasterizer），發表升級功能，包括增加 WFM7020和WFM7120波形監視器的3Gb/s單一鏈路串列數位介面（SDI）支援。有兩個新選項可增加此一功能：WFM7020和WFM7120 的監測選項（3G），以及 WFM7120 的抖動量測選項（JIT）

太克推出新款數位螢光示波器 (2008.04.25)
儀器廠商太克推出DPO3000數位螢光示波器（DPO），新的DPO3000提供嵌入式設計應用中，最廣泛採用的串列匯流排的觸發和解碼支援。此外，還具有5M的標準記錄長度，使用普及的Wave Inspecto巡覽和搜尋控制器，簡化尋找的工作

Sanjole推出WiMAX/LTE多層分析測試工具 (2008.04.23)
美商無線測試系統廠商Sanjole推出以FPGA技術開發之WiMAX/LTE分析測試工具WaveJudge 4800，WaveJudge 4800是以OFDMA為主要開發技術，整合向量信號分析儀(Vector Signal Analyzer)與通訊協定分析儀( Protocol Analyzer)功能，目前已經建構出可針對WiMAX與LTE的多層(RF/PHY/MAC IP layers)信號分析儀

Teradyne推出D750Ex高密度LCD驅動IC測試系統 (2008.04.22)
Teradyne宣布推出最新的D750Ex LCD 驅動IC測試系統(D750Ex LCD Driver Test System)。D750Ex專門設計用以測試高解析度LCD驅動器IC。奇景光電(Himax Technologies Limited)為位於台灣的無晶圓驅動IC設計廠商，採用此系統測試其下一代的大尺寸驅動器與手機驅動IC

Mobile WiMAX認證測試與量測論壇強力登場 (2008.04.22)
財團法人電信技術中心(TTC)與量測儀器廠商安捷倫科技(Agilent)將再度合作，於2008年5月14日，假新竹國立交通大學浩然圖書館 B1 國際會議廳舉辦『Mobile WiMAX認證測試與量測論壇』

VLSI國際學術會議開幕張忠謀應邀開幕演講 (2008.04.21)
2008年VLSI WEEK於今日假新竹國賓飯店開幕，包含台積電（TSMC）、英飛凌（Infineon）及三星電子（Samsung）等國際半導體大廠都應邀致詞，分別針對全球的半導體產業趨勢及技術進行分享

2008年半導體設備投資金額將減少兩成 (2008.04.21)
根據美國調查公司Gartner所公佈的全球半導體產業設備投資預測，2008年投資金額將比2007年減少19.8％，約為475億美元。2007年10月份該公司預測2008年將與2007年相同，但目前受到了美國經濟衰退、DRAM廠商減少投資的影響，因此下修了預測值

泰瑞達推出D750Ex高密度LCD驅動IC測試系統 (2008.04.21)
泰瑞達(Teradyne)於今日宣布，推出最新的D750Ex LCD驅動IC測試系統。D750Ex為專門設計用以測試高解析度LCD驅動器IC。此系統為奇景光電(Himax)所採用，用以測試其下一代的大尺寸驅動器與手機驅動IC

安捷倫正式加入LTE/SAE測試聯盟 (2008.04.21)
安捷倫科技（Agilent Technologies Inc.）宣佈已加入LTE/SAE（長期演進/系統結構演進）測試聯盟，該組織旨在驗證LTE/SAE技術為全球市場提供高速無線寬頻的能力。安捷倫是唯一投入LTE相互操作性測試與實地試驗（從實體層空中介面測試到協定層測試與網路診斷）的廠商

安捷倫科技參與工研院WiMAX網路系統佈建 (2008.04.21)
安捷倫公司宣布「E6474A」無線網路優化平台獲工研院採用，將進行WiMAX網路優化及佈建維護之研究。行動WiMAX網路是繼WLAN之後之高效能行動通訊網路，全球電信業者已積極佈建營運系統，新興市場印度各大電信業者也競相部署WiMAX網路；而國內六家業者自去年取得頻譜執照，預計於下半年陸續開始佈建營運