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自动测试设备系统中的元件电源设计 (2024.07.26)
本文叙述为自动测试设备（ATE）系统中的元件电源（DPS） IC选型指南，能够协助客户针对其ATE系统的实际要求选择合适的DPS IC，并满足ATE系统输出电流、热要求的系统级最隹化架构 |
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筑波与Teradyne携手打造客制化半导体测试方案 (2023.02.13)
因应全球消费性产品及电动汽车（EV）高功率、高电流测试需求，第三类半导体氮化??（GaN）与碳化矽（SiC）材料为新主流。在供应链中每个元件的品质把关都是关键，制程测试准确度足以影响整体PMIC，筑波科技与美商Teradyne携手合作推广Eagle Test Systems（ETS），满足客户客制化需求 |
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波士顿半导体整合全方位ATE服务 (2014.10.09)
波士顿半导体设备公司（BSE）宣布该公司已经将所有自动测试设备（ATE）事业整合至波士顿半导体设备品牌之下。即日起，Test Advantage Hardware和MVTS Technologies将以波士顿半导体设备之名称营运 |
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Teradyne推出D750Ex高密度LCD驱动IC测试系统 (2008.04.22)
Teradyne宣布推出最新的D750Ex LCD 驱动IC测试系统(D750Ex LCD Driver Test System)。D750Ex专门设计用以测试高分辨率LCD驱动器IC。奇景光电(Himax Technologies Limited)为位于台湾的无晶圆驱动IC设计厂商，采用此系统测试其下一代的大尺寸驱动器与手机驱动IC |
