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安捷伦参数测试解决方案获茂德科技选用 (2005.05.25)
安捷伦科技（Agilent Technologies）日前宣布，茂德科技中科12吋晶圆厂选中安捷伦4072B参数测试解决方案，以测试其高效能的标准型DRAM产品，原因是这套测试系统不论在速度和性能上皆大幅领先它厂
安捷伦半导体组件分析仪可整合CV及IV量测能力 (2005.04.29)
安捷伦科技（Agilent Technologies）推出一套Windows架构的半导体组件分析仪，可将电容相对于电压（CV）及电流相对于电压（IV）等两种量测能力整合到单一仪器中，不仅有助于节省半导体测试时间，同时还能提高生产力
安捷伦推出两款DC/RF/Pulse参数测试系统 (2005.03.16)
安捷伦科技（Agilent Technologies）新近推出Agilent 4075及4076 DC/RF/Pulse参数测试系统，可量测65 nm等先进制程技术所制造之组件的特性。Agilent 4075及4076可让半导体测试工程师量测RF和DC的特性


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