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凌华科技6/16举办「自动化量测关键技术研讨会」 (2016.06.06)
凌华科技将于2016年6月16日假台北矽谷国际会议中心2B会议厅，举办「智动化量测关键技术研讨会」，偕同致茂电子（Chroma）与能高电子（OpenATE）分享最新量测趋势与应用，掌握工业物联网与电子量测关键技术，全面破解降低测试成本与提高测试效能之道，以加速产品开发及专案时程
能高电子推出四款PXI平台IC测试模块 (2010.01.31)
能高电子于今日（1/31）宣布，将于二月推出更新版本之四款PXI平台IC测试模块。能高电子有鉴于今日IC不断快速变化的环境中，苦于现有ATE衔接不上的窘境，该公司将产品规格、特性做一区隔，让用户可依照自身需求，自行选购并组装适合之模块
IC Tester DIY？能高推PXI半导体逻辑测试模块 (2009.09.15)
有鉴于IC发展日新月异，传统量测设备已不敷使用，能高电子不断投入开放式架构之自动测试仪器的研发工作，旗下的软件平台有MTS2及GATE两大系统，硬件包含PXI可程序化FPGA母板、PXI半导体测试模块以及测试向量控制卡三大部分


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