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CTIMES / 內電路測試
科技
典故		 从演化到多元整合──浅介Bus规格标准的变迁

一个想要满足于不同市场需求的通用型Bus标准界面，能否在不断升级传输速度及加大带宽之外，达到速度、容量、质量等多元整合、提升效能为一体的愿望？
安捷伦内电路测试解决方案获二项技术大奬 (2010.05.20)
安捷伦科技（Agilent）于日前宣布，旗下的 Agilent Medalist i3070系列5内电路测试（ICT）解决方案，在4月底的2010年上海Nepcon贸易展中获得两项技术大奖。这些奖项旨在表彰产品的创新和可靠性，对改善现今成熟的SMT制造环境中的产品质量所做的贡献
安捷伦推出整合边界扫描和VTEP技术 (2008.03.11)
安捷伦科技（Agilent）宣布将为内电路测试（ICT）用户提供一个创新的方法，让他们在接触受限的空间内测试印刷电路板组件（PCBA），而不会牺牲测试涵盖率或产品上市时程，时可省下夹具的成本及减少测试资源

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