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CTIMES / 光學測試
科技
典故
电源管理的好帮手——ACPI

ACPI规格让操作系统、中央处理单元与接口设备三方面整合起来,互相交换电源使用讯息,更加简便而有效益地共同管理电源。
Tektronix展示为资料中心网路开发的最新光学测试创新技术 (2017.03.17)
Tektronix在OFC 2017上将展示100G、400G标准光学量测技术的最新发展,以及支援多OMA系统的光学调变分析软体的端对端示范? 全球量测解决方案供应商Tektronix(太克科技)将在​​OFC 2017上展示为资料中心网路所开发的最新光学通讯测试技术,OFC 2017是专为全球光学通讯和网路专业人士所举办的研讨会
Tektronix迈入光学组件及DWDM物理层测试 (2002.05.09)
Tektronix(太克科技)日前发表光学测试系统物理层量测应用之新系列产品,它为密集波长分割多任务 (DWDM) 组件及网络组件的光学设备制造商设定高准确度、高分辨率,及高生产率之新效能测试

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