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CTIMES / 社群討論 / 新聞報導論壇

SuperC_Touch
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来自: 台北县
文章: 178

发 表 于: 2011.12.08 08:26:39 PM
文章主题: 電容式觸控的終極技術實驗完成
     電容式觸控的終極技術實驗完成,預計會造成觸控產業的大地震,詳細進度會在CTime的12月20日的「展望2012 觸控技術自主發展」 研討會中提出。
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SuperC_Touch
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来自: 台北县
文章: 178

发 表 于: 2011.12.10 09:52:49 PM
文章主题: Re: 電容式觸控的終極技術實驗完成

In-Cell or OGS 哪一樣才會是電容式觸控最低的成本,還是 "以上皆非"。

更重要的是  - >  是否有人想過  "以上皆非"  的這個選項真的存在嗎?

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SuperC_Touch
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来自: 台北县
文章: 178

发 表 于: 2011.12.12 09:13:09 AM
文章主题: Re: 電容式觸控的終極技術實驗完成

        "以上皆非" 的選項確實存在,只是使用傳統的量測技術做不到而已,新技術出現就可以挑戰這項被視為不可能的任務,測試結果證明這條路是具體而且可行的,那又何必繼續斤斤計較OGS or In-Cell 的優劣

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Oven Ou
(不在在线)
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来自: 台湾
文章: 23

发 表 于: 2011.12.12 02:11:06 PM
文章主题: Re: 電容式觸控的終極技術實驗完成

CTimes回應: 對「展望2012 觸控技術自主發展」 研討會有興趣的人, 活動連結如下: http://www.ctimes.com.tw/cf/ShowCF.asp?O=HJVCK5CWGPUCFV0RNE

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SuperC_Touch
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文章: 178

发 表 于: 2011.12.15 06:04:28 AM
文章主题: Re: 電容式觸控的終極技術實驗完成
        很多人關心震度會如何,已經跟業界的一些先進討論過,獲得的結論是,只要順利完成,地震的級數將不亞於921。
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SuperC_Touch
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来自: 台北县
文章: 178

发 表 于: 2011.12.16 09:19:35 AM
文章主题: Re: 電容式觸控的終極技術實驗完成

     很多人好奇想要知名這個終級技術究竟是什麼,我們可以看到能威脅OGS的技術只有In-Cell,很可惜許久以來困擾In-Cell的問題終究無法解決,這表示In-Cell也需要一次革命性的技術創新,改變以往In-Cell使用的技術如光學式,形變式的電容或電阻等技術.

     這次的觸控終級技術所指的就是這個In-Cell的革命性創新,而這個大改變後的In-Cell技術是否還存在In-Cell的特徵,有可以討論的空間,暫時將它取名  "Nothing-In-Cell"   可能比較傳神.

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SuperC_Touch
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文章: 178

发 表 于: 2011.12.23 05:51:22 AM
文章主题: Re: 電容式觸控的終極技術實驗完成
如果不改變LCD的結構與製程
           只更換驅動IC
    就可成為觸控螢幕可行嗎?
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SuperC_Touch
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来自: 台北县
文章: 178

发 表 于: 2011.12.23 05:52:05 AM
文章主题: Re: 電容式觸控的終極技術實驗完成
         使用LCD的內部結構的
驅動線與資料線作為觸控用Sensor
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SuperC_Touch
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文章: 178

发 表 于: 2011.12.23 05:52:56 AM
文章主题: Re: 電容式觸控的終極技術實驗完成
        將會遭遇的技術障礙
LCD 的 V com層相當於接地的隔離層
驅動線與資料線的電容(20P~數百P/Line)
驅動線上的 Off 位準(-10V~-15V)
與LCD 控制電路的分時運作採用
(Line Buffering or Frame Buffering)
儲存電容的干擾
觸控感應量(電容的變化量)與自電容的比例是
(1:1000 or 1:10000)
如此微小的變化要如何從雜訊中分離出來
儲存電容的漏電流
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SuperC_Touch
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文章: 178

发 表 于: 2011.12.23 05:53:34 AM
文章主题: Re: 電容式觸控的終極技術實驗完成
LCD的 V com層 與 驅動線電容障礙

              讓現今所有技術

    只要是測量電容的方法都不可行
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SuperC_Touch
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文章: 178

发 表 于: 2011.12.23 05:54:32 AM
文章主题: Re: 電容式觸控的終極技術實驗完成
SuperC_Touch 第五代技術

       已完成初步實驗 

   證實了可以做到的可行性
     因為從第一代技術開始
量測的對象就不是以電容為主
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