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讨论新闻主题﹕Tektronix针对ONFI快闪记忆体标准推出测试解决方案

新闻 提要
Tektronix（太克科技）推出针对开放式NAND快闪介面（ONFI）标准的测试解决方案。 ONFI 4.0测试解决方案可用于Tektronix高效示波器，包括可分析ONFI汇流排上DDR2/3模式的软体，以及介面板为基础的有效探测解决方案。 ONFI标准由ONFI工作小组发布，以简化在消费性电子产品和计算平台中整合NAND快闪记忆体的程序。 ONFI 4.0规格引入了进化的NV-DDR3介面，并具有VccQ = 1.2V运作能力，可有效提升效率和提高功耗，将NV-DDR2和NV-DDR3 I/O速度扩展至667 M /s和800 MT/s，并新增了ZQ校准功能。 随着速度的增加和电压位准下降，使用ONFI汇流排的设计人员将面临确保相容性、除错时序问题和存取讯号等挑战

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