<
账号：
密码：

讨论活动主题﹕【日本专家】藉由AI深度学习提升自动光学检查设备辨识能力

活动 提要
随着全世界发展，当前产业被迫面临的棘手课题是，产品已从过去同规格的大量生产，转向「少量多样」与「多量多样」特色模式。唯有透过智能化辨识技术，结合全方位系统观的自动化与智慧制造规划，才能设计改善产线制程、品质、监控与回溯问题。但在部分在极高良率的要求下，AOI设备容易因敏感而出现过筛现象，因此产业在需要更智慧化的检测系统条件下，开始应用AI技术来辅助AOI设备进行后续筛检的优化，透过视觉辨识技术辅助AOI检测的后续优化，以提高检测设备的辨识正确率。 【报名日期】即日起至2020年4月8日止 【报名费用】原价4,500元/人(费用请勿另扣除邮资及汇兑手续费) 【课程优惠】 1 同公司2人以上同行享每人NT$3,500元 2.TEEIA会员享每人NT$3,000元

发表新主题
主题：
文章内容：
  确认码:  
  一般讨论区
一般讨论区
新闻报导论坛
Aktive besked forum
专栏评析
零組件科技論壇
產業新品中心
  應用論壇區
文章论述论坛
软件应用论坛
产品应用论坛
Microchip數位電源討論區─贏取大獎
  技术应用区
电子技术类：
计算机科技类：
网际科技类：
軟體資源類：
 
刊登廣告 ｜ 新聞信箱 ｜ 读者信箱 ｜ 著作權聲明 ｜ 隱私權聲明 ｜ 本站介紹
︱ Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3
地址:台北市中山北路三段29号11楼 / 电话 (02)2585-5526 / E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw