账号：
密码：
鯧뎅꿥ꆱ藥 1 곧
KLA-Tencor全新控片检测系统提升芯片生产开发 (2008.09.08)
KLA-Tencor公司推出专为IC市场设计的全新控片检测系统Surfscan SP2XP，这套新的系统是去年KLA-Tencor针对晶圆制造市场推出的同名工具。全新的Surfscan SP2XP对于硅、多晶硅和金属薄膜缺陷具备更高的灵敏度，相较于前一代产品Surfscan SP2，Surfscan SP2XP加强了依据缺陷类型及大小分类的能力，并配备真空搬运装置和业界最佳的生产能力


  跥Ꞥ菧ꢗ雦뮗
1 安勤推出搭载NVIDIA Jetson平台边缘AI方案新系列
2 贸泽RISC-V技术资源中心可探索开放原始码未来
3 igus全程移动式岸电系统可安全快速为货柜船提供岸电
4 新品上?? Fluke ii500、ii905和ii915声学成像仪 (声像仪)
5 Microchip发布适用於医学影像和智慧机器人的PolarFire® FPGA和SoC解决方案协议堆叠
6 Nordic Semiconductor下一代无线SoC为物联网应用提高性能和灵活性
7 英飞凌新款ModusToolbox马达套件简化马达控制开发
8 Littelfuse NanoT IP67级轻触开关系列新增操作选项
9 台达全新温度控制器 DTDM系列实现导体加工精准控温
10 意法半导体车载音讯D类放大器新增汽车应用优化的诊断功能

AD
刊登廣告 ｜ 新聞信箱 ｜ 读者信箱 ｜ 著作權聲明 ｜ 隱私權聲明 ｜ 本站介紹
︱ Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3
地址:台北市中山北路三段29号11楼 / 电话 (02)2585-5526 / E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw