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国研院科政中心主任履新 整合资源建构国际级科技策略智库 (2024.08.26)
国研院科政中心主任交接典礼於今(26)日举行,由国立清华大学电机工程学系教授黄锡瑜接任。国科会??主委林法正观礼致词时表示,感谢前主任林博文过去四年的努力付出,并期勉黄主任能继续带领科政中心发挥国家级科技政策研究智库的角色,支援国科会及相关部会的科技政策规划
车用晶片测试设备追加订单 波士顿半导体支援最高测试电高压 (2021.03.25)
全球半导体测试分类机公司波士顿半导体设备公司(BSE)今天宣布收到车用半导体客户的回购订单,购买多台Zeus重力测试分类机,配置用於MEMS压力和高功率积体电路测试
SEMICON Taiwan 2017即将登场 (2017.07.19)
SEMI(国际半导体产业协会)主办之半导体产业年度盛事 ━ SEMICON Taiwan 2017国际半导体展,将於今年9月13-15日於台北南港展览馆一、四楼举行,共计700家厂商展出超过1,700个摊位,预期将吸引超过45,000叁观者与会
恩智浦深耕台湾50年 持续创新及永续发展 (2017.01.16)
恩智浦半导体(NXP Semiconductors)欢庆在台50周年,于1月15日在高雄世运户外广场举办「恩智浦50周年庆暨家庭日」庆祝活动,邀请高雄产官学界代表与恩智浦国内外高阶主管共襄盛举,包含高雄市副市长史哲、经济部加工出口区处长黄文谷、高雄市政府经济发展局局长曾文生、高雄大学校长王学亮博士、以及恩智浦重要合作伙伴等
利用典型的方法测试「典型值」 (2014.09.15)
典型值往往是积体电路测试中最容易被误解的词,我们可以用其它相似的词汇来形容其概念:代表性、象征性、一般、正常、标准、主流、平均、中等、传统。
台积电推20奈米及3D IC设计参考流程 (2012.10.12)
台积电日前(10/9)宣布,推出支持20奈米制程与CoWoS(Chip on Wafer on Substrate)技术的设计参考流程,展现了该公司在开放创新平台(Open Innovation Platform, OIP)架构中支持20奈米与CoWoS技术的设计环境已准备就绪
Multitest发布Kelvin测试座综合教程 (2012.04.02)
Multitest日前宣布推出Kelvin教程。 若要低成本测试其测量值相对于接触电阻值很敏感的组件,Kelvin测试座是不可或缺的。真正的Kelvin测试座完全消除了直流电参数测试的接触电阻误差
工研院主办2006 VLSI-DAT正式登场 (2006.04.27)
因应IC设计在亚洲的蓬勃发展,工研院主办的第二届国际超大规模集成电路设计、自动化暨测试研讨会(2006 VLSI-DAT)在新竹国宾举行。专题演讲与来自全球共72篇突破性技术论文,吸引来自欧美日等17国300余位专业人才与会,共同切磋分享全球IC设计最新技术与发展
工业局积极推动半导体人才培训计画 (2003.04.11)
为解决台湾半导体产业人才缺乏问题,经济部工业局今年将推动「晶片系统产业发展计画」及「设立半导体学院计画」,推动半导体专业人才培育工作,以全面提升半导体产业人才水准,弥补在未来3年可能产生的6597个人才空缺
封测业可望登陆布局 (2002.06.25)
外传经济部目前倾向将封测厂比照八吋晶圆开放赴大陆投资,包括日月光及硅品等国内IC封装测试大厂均希望比照八吋晶圆,业者也已前往大陆布局,华泰、菱生、超丰等封装测试业者也均计划或已前往大陆投资,有志一同争取开放赴大陆投资
超大规模集成电路测试 (2001.06.13)
集成电路测试班 (1999.11.26)
主 办:自强工业基金会 地 点:N/A 电 话:N/A


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