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Tektronix为HDMI接收器测试新增进阶及特性分析支援功能 (2015.06.25)
全球示波器制造商太克科技（Tektronix）扩展HDMI测试解决方案的产品组合，加入适用于HDMI2.0接收器测试的进阶分析和特性分析支援。全新的HDMXpress将可为HDMI测试码型产生、自动校准和边际测试等作业提供完整的支援，让使用者不需执行手动码型建立程序 |
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IDT 推出具整合型频率容限能力的抖动微机电震荡器 (2013.04.08)
混合讯号半导体方案公司IDT (Integrated Device Technology)，今天宣布推出业界第一款有着典型相位抖动效能为 100 飞秒及整合型频率容限能力的差动式微机电震荡器。这款有着极低相位抖动及智能型输出频率的IDT高效能震荡器，在 100 亿位以太网络 (10GbE) 的交换器、路由器、以及其他相关的网络设备上，可以显著降低位错误率 (bit error rate: BER) |
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太克推适用BERTScope的PCIe 3.0接收器测试功能 (2011.06.29)
太克科技（Tektronix）于日前推出实作方法 (MOI) 草案，该方案将提供工程师使用BERTScope BSA85C 进行 PCI Express3.0接收器测试。此项功能使先前推出的解决方案更加完备，能利用下列工具验证 PCIe3.0 设计的发送器和信道效能，包括使用 DPO/DSA/MSO70000 系列示波器和太克TLA7SA16和TLA7SA08逻辑协议分析仪模块、总线支持软件，以及探测解决方案 |
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Tektronix USB3.0测试方案 促使兼容装置更快上市 (2010.01.20)
Tektronix今（20）日宣布，该公司的SuperSpeed USB解决方案，支持NEC Electronics USB 3.0兼容主机控制器的讯号质量验证作业，这是获得USB设计论坛（USB Implementers Forum）认证的USB 3.0产品 |
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奈米级IC测试挑战 (2005.05.05)
过去数年，数字电路的测试方法一直随着科技演进。其中，首次的最大改变是从芯片I/O的功能性测试（以逻辑仿真测试向量为基础）转变成以扫描（scan）为基础的测试方法 |
