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Tektronix推出Keithley S540功率半导体测试系统 (2016.11.03)
Tektronix(太克科技)推出Keithley S540功率半导体测试系统,这是为高达3kV的功率半导体装置和结构提供的全自动48针脚参数测试系统。完全整合的S540是专为与最新复合功率半导体材料(包括碳化矽(SiC) 和氮化镓(GaN)) 搭配使用而进行最佳化处理,可在一次探头接入中执行所有高压、低压和电容等测试
凌华科技推出整合15倍/50倍讯号调理模组之高速PXI Express数字化仪 (2014.06.24)
凌华科技推出新款PXI Express介面数字化仪PXIe-9848H,具备8通道、14位元解析度和100 MS/s取样率,整合15倍/50倍的讯号调理模组,可支援高达正负100伏特的输入电压范围,并兼具高动态范围表现能力
NI发表新款高密度应变和高电压模块 (2008.12.29)
NI近日发表NI 9225--300 V功率量测模块,还有NI 9235与NI 9236--8个信道的应变规量测模块,进一步扩充了C系列数据撷取系列。这几款模块均支持NI C系列架构装置,包含NI CompactDAQ即插即用数据撷取系统、NI CompactRIO控制/撷取系统,与NI单卡式(Single-Board)RIO嵌入式设计适配卡
安捷伦推出具备曲线追踪仪功能的组件分析仪 (2008.12.24)
安捷伦科技(Agilent)宣布推出首款功率组件分析仪/曲线追踪仪整合解决方案,其可在高达3,000 V的电压和20 A的电流下对半导体组件进行特性分析。功率组件,包括功率管理IC(PMIC)和功率MOSFET以及车用马达控制IC,对于高功率与高准确度测试的需求与日俱增


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