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爱德万测试V93000系统导入SmartShell软体 (2019.05.16)
(日本东京讯)半导体测试设备供应商爱德万测试 (Advantest)推出新的功能「SmartShell」以延伸了旗下产品V93000的操作系统SmarTest的支援能力。此桥接软体能让V93000单一可扩充测试平台与电子设计自动化 (EDA) 环境直接沟通，後者包括来自西门子 (Siemens) 旗下事业体Mentor的Tessent Silicon Insight软体 |
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爱德万测试叁展2017德州沃斯堡国际测试会议 (2017.10.30)
半导体测试设备供应商爱德万测试 (Advantest Corporation) 将在10月31日至11月2日於美国德州沃斯堡 (Fort Worth) 盛大举行的2017国际测试会议 (International Test Conference，ITC) 展示硬体与线上测试解决方案，并发表技术论文与海报 |
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是德科技推出PXIe数字激发与响应模块专为射频芯片组测试系统设计 (2015.02.12)
是德科技（Keysight）日前推出具备参数量测单元（PMU）与16个信道的PXIe高速数字激发/响应模块。Keysight M9195A PXIe模块具备快速灵活的射频芯片组测试仿真与组件特性分析能力，让测试工程师能够更有效率地进行设计验证与产品测试 |
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NI扩充PXI于半导体测试作业功能 (2009.12.04)
NI发表新的10款PXI产品，可提升PXI于混合式讯号半导体测试作业的功能。此透过软件定义的新产品套餐，已为了搭配NI LabVIEW图形化系统设计软件而优化，包含4组高速数字I/O（HSDIO）仪器、2组数字切换器、2组强化的RF仪器、1组高精确度的电源量测单位，与专属的数字向量档案汇入软件 |
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提供MCU测试系统完整因应客户各阶芯片生产策略 (2009.08.21)
MCU应用涵盖于DVD、机顶盒、数字相机和各类数字消费电子产品。由于低价格、效能提升、辅以应用领域不断开展更加广泛地支撑，目前低阶MCU产品依旧主导全球MCU微控制器应用市场格局 |
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专访:惠瑞捷台湾总经理陈瑞铭和ASTS总经理魏津 (2009.08.21)
MCU应用涵盖于DVD、机顶盒、数字相机和各类数字消费电子产品。由于低价格、效能提升、辅以应用领域不断开展更加广泛地支撑，目前低阶MCU产品依旧主导全球MCU微控制器应用市场格局 |
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-OpenSTIL v1.02-1 (2006.05.01)
An Open Source API for STIL (IEEE 1450) Data Streams |
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-OpenSTIL 1.0.1 (2006.01.15)
An Open Source API for STIL (IEEE 1450) Data Streams |
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SoC整合测试技术探索──P1500与CTL简介 (2005.03.05)
学界、业界现今在开发一套技术，以针对SoC进行整合测试，也就是所谓的P1500标准，而为了描述P1500标准，也同时发展出另一套测试语言CTL（Core Test Language）。以下将分别就P1500标准及CTL两种技术提出说明，提供SoC设计者参考 |
