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浩网经销Keithley 2700数据搜集器 (2000.07.20) 浩网科技宣布,将经销高精密数字电表制造商美商吉时利仪器公司。浩网表示,为因应客户自动化量测的需求,吉时利以Keithley2000,6位半电表为心脏,推出Keithley2700数据搜集器,浩网即日起经销此款产品,单机可扩充至80个测试频道,备有5种模块,可配合客户测试及自动化控制的需求来应用搭配 |
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Tektronix发表服务质量量测系统新功能 (2000.07.13) Tektronix表示,该公司发表2.0版的Net-C监测系统,该系统是监测行动与固定通讯网络服务质量(Quality of Service, QoS)的营运中非介入量测装置,新版本在系统上有许多重大的改进 |
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太克与IE公司合作建构光学测试平台 (2000.07.04) 太克科技(Tektronix)公司于日前宣布,世界性电信测试系统大厂IE(Instrumentation Engineering)公司订购了价值6百万美元的Tektronix多信道高速光纤测试仪器,将会应用在其IE Convergence系列光学测试解决方案 |
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Tektronix行动通讯服务质量新网站开幕 (2000.06.16) Tektronix为了强化对于国际行动通信业者的协助与服务,特别设立了一个新的网站www.mobileqos.com,提供行动网络服务质量(Quality of Service;QoS)各方面完善的信息。管理行动网络的QoS需要有坚固的测试、量测及监测工具,Tektronix为了满足现代行动网络业者的最严格要求,提供了各种完整的可调整解决方案 |
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Tektronix再获600万美元订单 (2000.06.15) Tektronix宣布,世界性电信测试系统大厂Instrumentation Engineering, Inc.(IE)订购了价值600万美元的Tektronix多信道高速光纤测试仪器,将会应用在其IE Convergence系列光学测试解决方案 |
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Tektronix推出全球最快的实时示波器TDS7000系列 (2000.06.01) 太克科技(Tektronix)宣布在新型数字荧光示波器(Digital Phosphor Oscilloscopes;DPO)系列中首次推出划时代的4 GHz实时性能。TDS7000系列示波器是基于一种新颖的Open Windows平台式操作为基础,其创新项目包括:高达20-GS/s的实时取样率、32-MB的记录长度(项为4M)高达4-GHz的带宽等 |
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企业价值的排他性是好事─研华科技总经理 朱伯伦专访 (2000.06.01) 企业的价值观如果清楚,
不可避免地就会产生排他性,
价值观不符的人就不会待在该企业里,
但这是好事,
因为如此一来便不会引起力量的分散及内耗...
参考资料 |
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美商Micronetics推出MicroCal (2000.05.10) 美商新一代之专利产品〔MicroCal〕模块是一个小体积,表面黏着之噪声模块。它被设计用于产生:精确ˋ可预测ˋ可重复的过量噪音比,可应用于目前之无线通信,大哥大手机及卫星通信网络系统之内建测试 |
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Tektronix推出新的MTS300 MPEG测试系统 (2000.05.05) Tektronix宣布推出新的MTS300 MPEG测试系统;这套系统是为了详细分析数字视频设备中MPEG-2错误讯号,目前研发出速度最快、更容易操作的量测仪器。MTS300系统是协助工程人员用于设计或评估数字视频产品 |
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示波器的演进与应用 (2000.05.01) 参考资料: |
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GPS的技术与发展 (2000.05.01) 参考资料: |
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具网路连线功能的示波器及测试仪器 (2000.03.01) 参考资料: |
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环球卫星通讯的新纪元 (2000.03.01) 参考资料: |
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Rick Wills出任Tektronix CEO (2000.02.16) 太克科技日前宣布由Rick Wills出任总裁兼执行长并担任该公司董事,这项人事任命落实了Tektronix稍早的计划蓝图。前任总裁及执行长Jerry Meyer将卸任其职务,但仍继续担任董事长,积极参与公司的事务 |
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德律科技推出TR-6010S TN/STN LCD Driver IC测试机 (2000.02.15) 从事半导体测试设备(IC Tester)及组装电路板自动化测试设备(Auto Test Equipment)已有11年经验的德律科技公司,于去年十月份推出10MHZ TR-6010数字IC测试机后,又将于今年二月份再推出专为TN/STN LCD Driver IC所设计的TR-6010S IC测试机 |
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探讨Rambus高速数位设计的应用与解决方案 (2000.02.01) 参考资料: |
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信号产生器频谱精纯度-无线通信系统和组件测试考虑要素 (2000.01.01) 参考数据: |
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Agilent的多埠测试系统可加快RF元件的测试速度 (1999.12.10) 安捷伦科技(Agilent Technologies, Inc.)新近推出Agilent 87050E多埠测试系统,在大量制造的生产在线量测50奥姆RF组件的性能时,可大幅提高测试速度和准确度。
新的测试系统是专为搭配Agilent 8712E系列网络分析仪而设计的,两者的组合提供一个高达3GHz的完整解决方案,可量测最多达12个埠的组件 |
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太克科技量测技术研讨课程 (1999.12.06) 「工欲善其事,必先利其器」,了解工具的特性将有助您突破量测困境、提升工作效率。太克举办「示波器基本原理及应用」、「逻辑分析仪基本原理及应用」、「高速电路阻抗量测的原理及应用」、「数字视频传输系统的原理及量测」与「曲线追踪仪原理及应用」之研讨会 |
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新世代IC封装设计与量测技术研讨会 (1999.11.29) 近年来在IC封装的技术与产品转型上,业者面临不少的冲击与挑战,一些崭新的的封装型态如PBGA、CSP乃至于Flip Chip、MCM等,多已出现在各专业IC封装厂、BGA基板厂或IC设计公司的产品Road Map上 |