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Tektronix展示为资料中心网路开发的最新光学测试创新技术 (2017.03.17)
Tektronix在OFC 2017上将展示100G、400G标准光学量测技术的最新发展，以及支援多OMA系统的光学调变分析软体的端对端示范? 全球量测解决方案供应商Tektronix(太克科技)将在​​OFC 2017上展示为资料中心网路所开发的最新光学通讯测试技术，OFC 2017是专为全球光学通讯和网路专业人士所举办的研讨会


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